原子力显微镜

 Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的ＡＦＭ应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。 仍然以世界上应用最广泛的AFM大样品平台为基础，齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行全面革新。 全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平， 现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。 Dimension Icon还配备了Bruker专利技术ScanAsyst™ （自动成像参数优化技术） ，用户可以更简易、更快捷地获得重复性更好的数据， 并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。 作为目前配置最高的AFM，保证客户高效完成所需的检测任务。
 

终极性能

l 独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有极高的扫描分辨率。l 极大地降低噪声水平，接触模式下可获得原子级图像，在轻敲模式下低于30pm
l 热漂移速率低于200pm/分钟，真正获得无曲图像

无以伦比的效率

l XYZ闭环扫描器的新设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也不降低图像质量，具有更大的数据采集效率。
l 将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
l 高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置。

优秀的多功能性

l 针尖和样品之间的开放式空间，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求。
l 硬件和软件技术方面的不断创新，新开发的HarmoniX模式，可以测量纳米尺度上材料性质。
l 用户实用程序脚本提供半自动测量和数据分析。 

终极性能

Dimension® Icon™优秀的分辨率，与 Bruker 特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。 Dimension® Icon™是针尖扫描技术的最新革新，一直处于工业领先地位的，配置温度补偿位置传感器，实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平，将这个性能应用在 90 微米扫描范围、大样品台系统上，效果甚至超过高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。 XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量。 

卓越表现
使用 Dimension 系列原子力显微镜发表文章数目远比其他大样品台原子力显微镜要多，成为研究领域最受欢迎的原子力显微镜型号之一。Dimension Icon 中，在原有的操作平台上引入最新技术，展现出更高的性能和更快的测量结果获得。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往最先进的 AFM 技术更加简便。 Dimension Icon 用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。 Dimension Icon 的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的 AFM 易用性 

世界上最灵活的平台
Dimension Icon 展现出的无与伦比的性能，坚固度和灵活度几乎可以实现以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型或多元样品支架和许多简单易用的性能，把 AFM 的强大功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量 AFM 成像和纳米操作设定了新的标准。 

强大的AFM控制器
通过 NanoScopeV 控制器， Dimension Icon 能够同时显示和捕捉多达 8 幅图像，并获得在 AFM 针尖扫描大样品时从未有过的信噪比。 NanoScopeV 作为第五代控制器，可以在 8 个渠道同时提供高速数据采集和高像素点成像(5120 x 5120)功能，允许研究者在时域上记录和分析针尖-样品相互作用时发生的纳米级事件，这是 AFM 以前从未实现过的。 

您梦寐以求的解决方案
科研人员需要迅速发现每一个突破口，取得研究进展，以求在科技发展迅猛的的今天，立于不败之地。 最新的 Dimension Icon 就是 Bruker 为您提供的这样一件有力工具。拥有世界最低噪音的闭环扫描器，更高的分辨率，更快地获取数据的速率，和当前最强大的 AFM 控制器， 帮助您完成您的实验设想，甚至得到意想不到的完美数据。

应用广泛，表现出众
Dimension Icon可高速捕捉多通道数据，获得更多高质量的测量结果。结合Bruker多项AFM方面的专利技术和模式， 以及模式增强功能，Icon提供的卓越的仪器性能和出众的测量表现，帮助您在纳米研究领域更上一层楼。

主要特点：

结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。

Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率：
●  专利设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率
●  全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力
●  最新的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置
●  高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位
●  完全开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验
●  硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式