产地类别: 进口
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KLA-Tencor先进的探针式台阶仪,可精确测量纳米级至2毫米台阶高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力,集高测量精度、多功能性和经济性于一体,是生产线及材料分析等应用领域的理想选择。因其具有6.0A (1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率,是目前商业化仪器里(经市场验证)特别高精度的台阶仪产品。
KLA-Tencor AlphaStep轮廓仪配置自动台,采用了新型光学反射探测系统来测量高度,同时应用电磁力控制探针压力,能有效的实现超微力和低惯量 。这些创新型使表面轮廓仪能够无伤测量软薄膜样品。
P-7探针式轮廓仪可靠的测量性能提供了行业先进的测量重复性。自动样品台,闭环自动移动范围150mmx150mm,是市场上唯一具有长扫描能力的探针式轮廓仪。UltraLite®传感器包括动力控制、优良的线性度和垂直分辨率,使其成为表面测量系统中抢手的传感器。
用户单位 | 采购时间 |
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上海新进半导体 | 2016-09-01 |
KLA台阶仪D600的工作原理介绍
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