DOI(低阻金刚石薄膜)
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合肥科晶

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DOI(低阻金刚石薄膜

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美洲

  • 金牌
  • 第12年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产品名称:

DOI(低阻金刚石薄膜Diamond?on?Oxide

 

产品参数:

 

 

 

 

 

 

基底尺寸: dia4"x0.5mm

Si晶向:<100>±0.5°

绝缘层:SiO2

薄膜厚度:2um

氧化层:1um

电阻率:<0.1 ohm-cm

   

标准包装:

1000级超净室100级超净袋真空包装或者单片盒装                     

 

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