OEM-3B电离能测试系统
OEM-3B电离能测试系统

¥80万 - 100万

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BIP-KV201

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亚洲

  • 金牌
  • 第12年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

产地类别: 进口


日本分光 BIP KV201 电离能量测量系统(超紫/真空紫外线型)


概述:

对于金属和有机半导体材料测试电离能很重要也是非常关键的,如有机电子发光和有机薄膜太阳能电池。一般来说,例如 UPS XPS,只有在高真空条件下对样品的光电子能谱测量的同时,进行电离能量/工作函数测量。然而,有机器件受大气影响导致在各种在大气气体下的测量有一定的要求。采用光电子能谱,我们的 BIP-KV201电离能的测量系统能够在氮保护气体,真空气体和大气下检测一些样品。使用氮清除类型的单色仪和光学系统, BIP-KV201 直射到样品上的真空紫外线,功函数能够达到 9.54eV

对于金属和有机半导体要想精确地测定电子结构总是需要严格的测试环境比如超高的真空度,这样一来测试的成本上升,而测试时间也增加。因此,一种简易而实用的测试方法对科研和工业研发都显得非常有意义。BIP-KV201型电离能测试系统是一台独一无二的工具,其可以对不同环境中功能材料的能量水平进行表征。比较传统的光电子发射光谱法,由于BIP-KV201的自由空气的环境,测试时间和成本减少了不少,而测试的精确性大幅提高



优势特点:
●测量电离能量(工作函数)从 9.54 ~ 4.0伏
●样品在氮气、真空和大气下进行测量
●评估有机发光电子和有机薄膜太阳能电池的理想设备 
●运用Pico-Ammeter使得系统达到较高的灵敏度


规格参数:

型号名称:  BIP-KV201电离能量测量系统(超紫/真空紫外线型)

光源:  氘灯30W

测量波长范围: 在大气下 : 6.53 ~ 4.0eV ( 190 ~ 310nm) 在真空条件下 : 9.54 ~ 4.0eV ( 130 ~ 310nm)

测量区间: 最小步距 0.01eV

照射面积: 2 x 2mm (通过狭缝和垂直孔径)

测量方法: 产量光电子能谱分析(PYS)

样品室: 大气、氮、真空

软件: 光谱辐射测量控制,光电子,电离能的测定(功函数),在二进制和重现数据存储数据,文本文件中的数据存储

●产量光电子能谱分析

单色光照射在样品上。当前大量的光电子从中释放出来得以检测,并且在激发单色光中的大量光量子得以检测。然后在不断变化的入口电离能量被检测到。 

●测量项目 

①背景测量 利用光电倍增器通过测量光辐照样品,计算大量的光子 

②样品测量 每个波长的单色光照射到样品上,然而对样品施加的电压很容易获取释放出来的电子。并且计算当前释放出来的大量电子。

③电离能量数据处理 Y ∝ (hν-I)n Y=释放大量电子 / 大量光子照射 h 普朗克常数 Ν 频率 I 入口 N 关于参数N取决于在高水平边缘中的电子密度下样品的被占领状态,可以选择2或3.标准设备配备 氘灯和其电力供应真空紫外monochoromator辐照光学系统样品室样品架和其他




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