概要
台式XGT - 5200系统搭载独特的X射线导管，允许高空间分辨率的X射线荧光分析--从1.2毫米到10微米。无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中，即可在正常大气压力下分析。完全整合的软件可控制样品的移动，获取数据分析（包括定性和定量分析，并生成成分组成图像）。将样品放在样品祥中后，只需几秒钟，借助直观的“point and click”选择分析位置，即开始抓取数据。
样品观察采用同轴几何呈象，可消除视差，您可以绝对相信，看到的样品即是测量的位置。
仪器装载了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了最低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。
通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像，样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息，极有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。
特征
*最高的空间分辨率：
HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度的超细光斑，可进行快速无损的微细结构分析。
*X射线透射成像：
结合XRF成像， XGT–5200可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析，定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后，得到清晰穿透图像甚至非平面样品，如圆筒形部件。
*完整地分析整个样品：
该样品室可以容纳广泛的样品进行分析，从10 μm的微区功能的点分析，到10cmX10cm大面积分析。
*整合数据采集和分析的操作软件：
直观的软件可以轻松地控制仪器硬件，快速采样的可视化和选择测量区域，全面的数据分析。功能包括自动峰识别，定量测量， RGB图像生成，线剖面分析。
規格
型号：
XGT-5200
原理：
能量色散型X射线荧光光谱分析法
检测元素：
Na～U(试样在大气中)
样品形态：
塑料、金属、纸、涂料和油漆等的液体(液体试样容器为可选项)，生物样品
样品室环境：
大气
X射线光斑：
10µm，50µm，100µm，400µm，1.2mm,3mm
X射线管：
50kV/1mA, 铑（Rh）靶材
检测器：
SDD硅漂移检测器
样品台：
100mm×100mm(面扫描最大尺寸),
200mm×200mm(可选)
样品室：
400×350×40mm(可定制特殊尺寸)
光学成像：
整体图像: 100mm×100mm (标准:400,000象素, 可选: 2百万象素)
细节图像:同轴100倍放大
分析方法：
定性: 自动定性功能,背景显示, ROI 颜色分辨, 匹配功能
定量: FPM, 校准曲线, 有害元素 (Cl补偿,厚度补偿，电线补偿)
测量导航: 条件设置, 定量分析l
数据管理(可选)：
Excel® 数据管理软件,检测报告输出
电源：
AC100, 120, 220, 240V 50/60Hz
重量：
约 280kg
外形尺寸：
680(W)833(D)670(H)mm
