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F20-XT经济型高级薄膜测厚仪
主要用于测试各种透明半透明的膜厚.
产品简介:
1.是在F20-NIR的基础上专为测试厚膜而设计的,波长范围从1200nm到1450nm,在NIR波长分辨率为 0.5nm;
2.薄膜厚度的测量范围是:0.2~ 450um(低光学参数薄膜),0.1~160um(Si及其它半导体),精度都好于0.4%。
应用领域 :
微机电系统MEMS;
绝缘体上硅SOI;
倒装芯片Flip Chips;
厚聚合物 。
保修期: 免费保修一年,保外提供收费服务
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 保修期内免费提供培训,保修期外提供收费培训服务
免费仪器保养: 保修期内提供免费上门提供保养,保修期外提供收费上门保养
保内维修承诺: 免费保修
报修承诺: 24小时服务
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