看了null的用户又看了
F30薄膜测厚仪
主要用于测试各种透明半透明的膜厚。
产品简介:
1.是监测薄膜沉积的最有效工具,可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口,实时监控长晶速度,实时测量膜厚、 n 、 k 值以及半导体和绝缘体涂层的均匀性。可加装三个探头,同时测量三个样品,有三种不同波长选择 ( 波长范围从可见光 400nm 至近红外1700nm);
2.测量的薄膜厚度范围从 15nm 到 250um;
3.测量精度优于1% 。
主要特点:
测量精度高,优于 1% ;
测量速度快,几秒钟内可完成测量;
整套设备可放置在沉积室外;
操作简单,使用方便;
价格便宜
应用领域:
分子束外延MBE;
金属有机物化学气相沉积MOCVD;
材料研究;
光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片。
保修期: 免费保修一年,保外提供收费服务
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 保修期内免费提供培训,保修期外提供收费培训服务
免费仪器保养: 保修期内提供免费上门提供保养,保修期外提供收费上门保养
保内维修承诺: 免费保修
报修承诺: 24小时服务
最多添加5台