¥10万 - 30万
AMPTEK
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X-123 FAST SDD C2 window
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美洲
仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型： 电子产品
元素分析范围： Na~U
分析含量范围： 1ppm-99.99%
能量分辨率： 小于140ev
重复性： 0.1%
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Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发
图1，X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置
| Amptek推出全新SDD探测器，针对扫描电镜能谱仪客户应用（EDS SEM）利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4)，能够对低能量区域元素快速响应，新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C)，高效率快速SDD™是EDS光谱仪最理想的方案。 |
图2, C2窗口传输效能图 | 元素C2窗口效能B19.7%C43.9%N59.2%O62%f69%Ne72.9%Na75.1%Mg77.3%Al80.3%Si81.8% |
图3，在真空环境下使用C2窗口快速SDD™，碳(C)元素光谱图
图4，使用快速SDD™ 测试Fe55光谱图4，Amptek低能量C2系列窗口对比 聚合物窗口 效能对比图
