仪器种类: 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型: 电子产品
产地类别: 进口
元素分析范围: Na (11)~U (92)
分析含量范围: 1ppm—99.99%
能量分辨率: 小于140eV
重复性: 0.1%
探测器: X射线探测器
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多种完整的OEM系统:
1. XR-100系列探测器:小型化的X射线或者伽马射线探测器(Si-PIN、SDD或CdTe);
2. PA210型或其他前放:提供标准或者用户定制的前放;
3. DP5型数字脉冲处理器:最先进的,高性能低功率数字脉冲处理器; 数字化的前放输出信号,取代了传统的模拟光谱系统中的成形放大器和多道分析器;
4. PC5型电源:用于XR100系列探测器和 DP5数字处理器的低功率、高性能电源;
5. X-123型集成化X射线谱仪:包括探测器(Si-PIN、SDD或CdTe)、前放、DP5和PC5,它们都封装在同一小金属盒内。
应选用哪个系统?
根据你们公司在 X射线荧光分析系统硬件和软件方面的能力,在探测器和电子设备上有下面几种选项。
下面的选项1和选项2是比较容易实现的。选项3、4、5和6按顺序可实现的难度越来越大,这几种选项比较适合于那些在 X射线荧光分析能提供硬件和软件方面技术支持的专家。
Amptek探测器有多种选择,而Amptek全系列探测器(Si-PIN, SDD, or CdTe)都应用于如下各选项中,具体可参照探测器选购指南。6mm2/500µm, 13mm2/500µm以及 25mm2/500µm的探测器非常适于RoHS/WEEE标准应用。
Amptek还提供了可选的XRF-FP定量分析软件。
请看以下不同选项的流程图。每种选项在下面都有详细的描述。
注意:
1. 所有Amptek探测器都可以用在以下任何的选项中,这包括 Si-PIN、SDD或CdTe。
2. Amptek公司提供了数字处理器所使用的软件开发套装(Software Developers’ Kit, SDK),这使得OEM产品组件可很容易集成到任何相关系统上。请点击这里进入软件下载页。
选项1:X-123或X-123SDD
OEM应用中,X-123和X-123SDD均为独立完整系统,是满足快速进入市场需要的理想选择。这些系统中各组件均封装于同一外壳内,仅需一个+5V的直流供电和到计算机的USB或RS232通信连接。其中X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器,而X-123充分反映了该宗旨——该系统将 XR100型X射线探测器和电荷敏感型前放,以及DP5 型数字脉冲处理器和带有PC5型电源的多道分析器集成在一个构造简单的金属盒内。
包含:
1. X射线探测器(Si-PIN、SDD或CdTe)和前放;
2. 数字脉冲处理器和多道分析器;
3. 电源。
X-123产品特性:
1. 易操作;
2. 低功率(1.2W);
3. 体积小;
4. 重量轻:180克(6.3盎司);
5. USB和RS232通讯支持;
6. 跟所有类型的Amptek探测器匹配。
产品货期: 40天
整机质保期: 1年
培训服务: 额外提供免费培训
一个常见的任务是改变系统的能量范围。这个可以通过调整放大器的增益来实现。较低的增益对应较大的能量范围,反之,较大的增益则对应较小的能量范围。比如,Amptek数字系统中100倍的增益对应满刻度为15keV,50倍的增益对应满刻度是30keV。通过改变系统的增益来调整能量范围。AMPTEK的数字处理器的增益可以通过DPPMCA软件进行调整,
Amptek固件升级,应用程序自动检测Amptek网站最新固件。此应用程序可设置一些校准参数。用户可根据需要自行下载。
电磁干扰(EMI)是辐射检测中常见的问题。探头的输出是一个非常小的脉冲,一般是几纳安,几十纳秒的时间。前放输出是一个小的电压脉冲,一般为几个mV。在这几个敏感节点附近,通常会发现有电源大电流(比如X射线管的高压),高速数字电路以及其他可能干扰源的干扰。接地,屏蔽和其他的技术可以减小干扰,但使用不当时干扰会更大。 此文档提供了一些使用Amptek的X射线探头和信号处理器时最小化这些问题的建议和方法。
XR100或X-123均可选配Amptek 公司全系列X射线探头组件: XR100标配仅包括X射线探头和前置放大器(前放),故需配套使用 PX5数字脉冲处理器、多道分析器和电源才能构成一个完整系统; X-123已经包含数字脉冲处理器,多道分析器和电源,是完整系统;它专为OEM设计,并针对产品便携性做优化; XR100/PX5是最灵活的一个组合,专为实验室使用设计的; PX5需要配套X射线探头使用,兼容其他厂家的探头产品。
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