产地类别： 进口
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仪器简介：
标准模式
工业规格
手动样品台
自动调焦
技术参数：
活动面积：864X648um/ 86.4X64.8um
波长范围：420~640 nm
厚度测量范围：350A~3um
最小光斑尺寸：1.48um, 0.148um;
透镜旋转台：5X,50X
可测量层：1
样品台尺寸：200mmX200mm
Z轴可重复性：±1um
Z轴自动调节结构：
Z direction Head Movement
Travel range : 50mm
Max. velocity : 50mm/s
主要特点：
非接触式，非破坏式
3D测量图像
可测量亚微米光斑
实样监控
易操作界面
应用领域：
主要用来测量PCB/PWB板铜箔上的OSP薄膜
SpecMetrix FWS 膜重测试站
工业物理
Kurabo
上海韵鼎国际贸易有限公司
白光干涉仪三维表面形貌测量系统
深圳市中图仪器股份有限公司
F50薄膜测厚仪
迈可诺技术有限公司
