OSP薄膜测量仪
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ST4080-OSP

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亚洲

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核心参数

产地类别: 进口

仪器简介:

标准模式
工业规格
自动调焦
防震台
自动的X-Y平台

技术参数:

活动面积:864 x 648㎛ / 86.4 x 64.8㎛
波长范围:420 ~640 nm
厚度测量范围:350Å~3㎛ 
最小光斑尺寸:1.48㎛, 0.148㎛
透镜旋转台:5X,50X
可测量层:1
样品台尺寸:200mmX200mm
Z轴可重复性:± 1㎛
Z轴自动调节结构:
Z direction Head Movement 
Travel range : 50mm 
Max. velocity : 50mm/s


主要特点:

非接触式,非破坏式
可测量亚微米光斑
实样监控
易操作界面


应用领域:

专用于测量PCB/PWB板的铜箔表面的OSP厚度。

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