UNAT-M – 便携式纳米压痕仪
The first Nanoindenter with a mobile measuring head
UNAT-M新型便携式纳米压痕设备由一个独立的仪器和一个可移动的测量头组成，该设备的独特之处在于它可以直接对工业样品进行测量。
技术参数：
1. 最大负载：1000 mN 解析: 200 nm
2. 最大位移：150 um 解析: 0.05nm
3. 标准物镜：x20，在19 英吋荧幕下放大倍率为750倍
4. 测量模式：奈米硬度，ISO14577标准硬度及杨氏系数，
连续刚性度(QCSM)、循环硬度、Vickers、Elastic Modulus 、Stress-strain、Cyclic等测试
5. 测量参数：压痕硬度(HIT)、维氏硬度(HV)、马氏硬度HM，HMS)、杨氏模数值(EIT)或松弛(RIT)等60几种资料
6. 自动X-Y测量平台：25x25mm
7. 可以扩充：AFM，加熱平台，共聚焦显微镜
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压痕器可直接放在大试验片上
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X-Y自动平台及快拆夹具
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光学测量观察系统
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QCSM测试软件功能
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多功能测量及设定软件
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选购：AFM观察系统
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