RoHS分析仪/测厚仪

850型多功能聚于一体的X荧光光谱仪；探测器采用先进的电制冷方式，无需氮制冷，增加安全性；可以同时检测RoHS有害元素和镀层厚度，一机多用；多种准直器和滤光机制可供选择。

型号 750型
X射线管 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选
探测器 硅锂半导体探测器

滤光器 一次滤光
样品观察 CCD高精度彩色摄像头
准直器 Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm， 多种准直器可选
对焦系统 激光对焦
测量方向 从上向下
样品台 多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台，固定样品台)
可测元素 K到U
测试时间 镀层厚度：10-100s
元素含量 60-300s
元素含量分析指标 分析范围：100PPM-99.99%
准确度 5%
精确度 0.1%
检出限 1PPM
镀层厚度的检测指标 准确度：第一层5%，第二层10% 精确度：0.1%
检出限 0.01μm
测试软件 基本参数法
定性功能 自动标示存在元素
报告结果 自动生成
定量功能 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样

数据处理 MS-EXCEL

材料分析和镀层厚度（膜厚）测量 镀液分析、黄金等贵金属鉴定