研究级正置金相显微镜 XHC-S1
研究级正置金相显微镜 XHC-S1

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XHC-S1型

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核心参数
仪器简介:

北京东方华测科学技术中心成功地设计开发出高性能的具有微分干涉(DIC)功能的XHC-S1型正置金相显微镜。选用最优质的光学元件,出色的光学系统设计,可获得高清晰的显微图像,成像效果可与进口显微镜媲美。
XHC-S1型金相显微镜是针对高端用户的需求而研发的,作为高级金相显微镜,本仪器采用了反射和透射两种照明形式,在反射光照明下可进行明暗场观察和微分干涉(DIC)观察、偏光观察。在透射光下可作明场观察。
太阳能电池硅片检测、微电子、集成电路、半导体晶圆检测等行业对金相显微镜的要求不同于普通的金相显微镜,需要应用特殊技术规格的显微镜。要求显微镜必须具有景深大、工作距离长、视场宽大、衬度好。XHC-S1型正置金相显微镜为太阳能电池硅片检测、FPD、电路封装、半导体晶圆、金属材料、精密模具的检测提供了高品质的仪器。



技术参数:

正置金相显微镜型号
XHC-S1
光学系统 UIS 无限远光学系统
光路设计 透、反射双光路
观测方式 明/暗场观测、偏光观测、微分干涉(DIC)观测
放大倍数 50X-1000X
目镜
超宽场、超大视场目镜10× 视场直径达到¢25mm

物镜 平场无限远长工作距离,明场/暗场物镜(标配四个)
5×/0.1B.D / W.D.29.4mm
10×/0.25B.D / W.D.16mm
20×/0.4B.D / W.D.10.6mm
40×/0.6B.D / W.D.5.4mm
50×/0.55B.D / W.D.5.1mm
80×/0.75B.D / W.D.4.0mm
100×/0.8B.D / W.D.3.0mm


转换器 带微分干涉(DIC)插口的四孔转换器
偏光装置 检偏镜可360度转动,起偏镜、检偏镜均可移出光路
滤光装置 插板式滤色片(绿、蓝、中性)
聚光镜 NA1.25阿贝聚光镜带可变光栏和滤色片
调焦系统 具有粗、微调同轴调节,行程40mm,微动格值0.002mm
载物台 二维移动载物台,低位同轴手轮操作
X、Y移动范围:50mm×80mm;平台尺寸:189mmX160mm
照明系统 落射照明:带孔径光栏和视场光栏,卤素灯12V/50W,AC85V-230V, 亮度可调节
透射照明:卤素灯12V/50W, AC85V-230V,亮度可调节



主要特点:

XHC-S1型正置金相显微镜可广泛应用于各个高性能要求的研究观测,尤其带有微分干涉功能,被广泛应用于太阳能电池硅片检测、FPD、电路封装、半导体晶圆、电路基板、材料、精密模具的检测。

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