正置金相显微镜 XHC-S2

北京东方华测科学技术中心研发生产的XHC-S2正置金相显微镜适用于半导体晶圆、集成电路检测、光伏行业硅片检测、微电子检测、金相、矿相、晶体等的观察与分析研究等，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门的首选。
XHC-S2金相显微镜针对集成电路、半导体晶圆检测及微电子行业的特点，实现了大视场、大景深、长工作距离、衬度更好。采用了反射和透射两种照明形式，并配有落射偏光装置。满足了高要求的成像质量。
在反射光照明下可进行明场和偏光观察，又可在透射光照明下作明场观察。宽阔的机身更现整体刚性， T 形的外观设计为您提供了稳定的基座。人性化的设计，简便的操作将您从繁重的工作压力中解放出来，从而让您全部的精力投入实验之中。

正置金相显微镜型号
XHC-S2
光学系统 UIS 无限远光学系统
光路设计 透射、反射双光路
放大倍数 40X-1000X （可扩展至2000X）
物 镜 长工作距离无限远平场金相物镜（标配四个）
4×/0.1B.D / W.D.29.4mm
10×/0.25B.D / W.D.16mm
20×/0.4B.D / W.D.10.6mm
40×/0.6B.D / W.D.5.4mm
50×/0.55B.D / W.D.5.1mm
80×/0.75B.D / W.D.4.0mm
100×/0.8B.D / W.D.3.0mm

目 镜 超大视场高眼点平场目镜10× ∮22mm

转换器 四孔转换器
偏光装置 检偏镜可360度转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路
调焦系统 具有粗、微调同轴调节，行程40mm，微动格值0.002mm
载物台 二维移动载物台，低位同轴手轮操作
平台尺寸：180mmX150mm，移动范围：75mmX50mm
照明系统 反射光路科勒照明系统，带孔径可变光栏和视场可变光栏
透射照明12V/30W,AC85V-230V亮度可调节

XHC-S2型正置金相显微镜广泛应用于集成电路检验、光伏行业硅片检测、半导体晶圆及微电子及金相材料等行业的检测。金相、矿相、晶体、微电子等方面进行观察与分析研究。