TESCAN Micro-CT系统及原位动态4D应用介绍

当下CT系统多专注于三维成像，随着原位实验需求与日俱增，静态3D结果已无法满足科研和工业需求。TESCAN显微CT不仅可实现多尺度的高分辨（亚微米）、高通量三维成像，也可进行长时间连续扫描（几百小时）以及快速“4D”动态成像。

由仪器信息网主办的第二届无损检测技术进展与应用网络会议将于2023年9月26-27日召开。会议期间，TESCAN资深应用工程师袁明春将分享报告《TESCAN Micro-CT系统及原位动态4D应用介绍》，展示如何使用动态CT对原本无法观测的连续变化或只能模拟仿真的实验实现实时观测。

欢迎大家报名听会，在线交流。

附：参会指南

为推动我国无损检测技术发展和行业交流，促进新理论、新方法、新技术的推广与应用，仪器信息网定于2023年9月26-27日组织召开第二届无损检测技术进展与应用网络会议，会议设置四大专场，邀请领域内科研、应用等专家老师围绕无损检测理论研究、技术开发、仪器研制、相关应用等展开研讨。

1、进入第二届无损检测技术进展与应用网络会议官网（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/ndt2023/）进行报名。

扫描下方二维码，进入会议官网报名

2、报名开放时间为即日起至2023年9月25日。

3、会议召开前一周进行报名审核，审核通过后将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接。

4、本次会议不收取任何注册或报名费用。

5、会议联系人：高老师（电话：010-51654077-8285 邮箱：gaolj@instrument.com.cn）

6、赞助联系人：周老师（电话：010-51654077-8120 邮箱：zhouhh@instrument.com.cn）