inTEST- Temptronic发布高低温冲击试验箱

inTEST ATS-545-M  ThermoStream 高低温冲击测试机
上海伯东美国 inTEST 高低温测试机中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 温度范围 -75°C 至 +225°C；专利 ESD 防静电保护设计，不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却。ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！inTEST Temptronic 超高速高低温测试机适用于电子元件、集成电路 IC、PCB 电路板的高低温测试。

Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数：

* 一般测试环境下；变温速率可调节

inTEST Temptronic 高低温冲击测试机功能特点：
与友厂对比，inTEST ThermoStream 独有的专利自动复叠式制冷系统(auto cascade refrigeration)保证低温，内置 AC 交流压缩机，冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；专利 ESD 防静电保护设计
旋钮式控制面板，支持数据存储。
过热温度保护：出厂设置温度 +230°C
加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗
干燥气流持续吹扫测试表面，防止水气凝结

ATS-545-M 高低温测试机尺寸和重量:
尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
净重 236 kg, 毛重 365 kg


与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：
1、变温速率更快
2、温控精度：±1℃
3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。

inTEST 高低温测试方法：提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。

inTEST高低温冲击测试机 ATS-545-M 尺寸

宽61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展 160 cm
标准操作高度 130.3 cm;(可选188 cm)
标准操作高度 69.1 cm;(可选81.3 cm)
噪音 < 65 dBA

若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式：
上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本 NS 离子蚀刻机,英国 NanoMagnetics 原子力显微镜等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作！
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创新点：

高低温能力更强，升降温速度更快，更精准