日立UH4150三款自动检测系统重磅发售

    日立紫外/可见/近红外分光光度计UH4150自问世以来，以其性能之高、应用之广、发展之快，受到业界专业人士的极高重视与关注。对于在实际固体样品检测方面需要高质量数据的用户，例如半导体开发、光学样品和新材料领域的用户而言，UH4150无疑是最佳的选择。

    为满足客户的更高要求，提供更加智能、省时的解决方案，三款UH4150搭配的自动检测系统：自动角度可变检测系统、自动偏振检测系统、自动X-Y样品台检测系统，通过全自动化测样，大幅优化测量数据的重现性，同时缩短测量时间，提高作业效率。目前，三款自动检测系统已正式面向中国市场开售！

自动角度可变检测系统

• 可连续自动测定任意设置条件（偏振器角度、入射开始/结束角度、角度移动间隔）的透射、漫透射、反射以及漫反射光谱

• 可自动检测绝对反射率（5°～60°）

• 每个样品^1）的作业时间可缩短约96%

1）5～70°（每步进5°）、波长300～800 nm、反射光谱共测定28次（S、P偏振光）时

自动偏振检测系统

• 正交位置检测功能：以0.01°为最小步进值，自动检测最低透射率的正交状态，使测定结果重现性更加优异。

• 色度分析功能：可计算出色彩(X、Y、Z)、L*,a*,b*、L,a,b、L*,u*,v*、色度坐标x,y、偏光率。

• 内置消偏振器，可降低仪器与光源自带的偏振效应，减小系统误差。

自动X-Y样品台检测系统

• 可自动检测入射角为5°的相对反射光谱和入射角为0°的透射光谱。

• 可连续测定预设样品点位。

• 可节省装样时间，大幅提高作业效率²⁾。

2）测定25个点位时，人工操作时间缩短了92％。

日立UH4150分光光度计仪器详情，请见：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C185793.htm

关于日立高新技术公司：

   日立高新技术公司，于2013年1月，融合了X射线和热分析等核心技术，成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术，精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新，因此公司变为日立高新的子公司，同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学，扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料，产品线更丰富的日立高新技术集团，将继续引领科学领域的核心技术。