西安交大博士生获2015美国电镜协会年会Presidential Scholar奖

　　日前，在美国俄勒冈州波特兰市举行的2015年美国电子显微分析协会年会(Microscopy& Microanalysis 2015， M&M2015)上，由西安交大电信学院国际电介质研究中心杨光教授指导的博士生李超荣获了由美国微分析协会(Microanalysis Society, MAS)颁发的研究生学术奖(Presidential Scholar award)。该奖项旨在表彰在电子显微领域内做出出色工作的研究生。李超成为2015年度获得此荣誉的唯一来自中国大学的在读研究生，他也是西安交大第一次获得此荣誉的学生。

　　国际电介质研究中心李超博士此次获奖的题目为“Atomic resolution studies of the (K, Na)NbO3/SrTiO3 interface using aberration corrected STEM”。该工作借助位于曲江校区国际电介质研究中心的目前世界上最先进的透射电镜之一-ARM200F聚光镜球差校正扫描透射电镜，在原子尺度观察无铅铌酸钾钠外延薄膜与其钛酸锶单晶基底之间的界面微观结构、成分分布及应变情况，结合图像模拟技术及密度泛函理论解释材料界面处的微观结构对其宏观性能的影响。本工作是杨光教授课题组同本中心王玲艳老师、前沿院王昭、杨耀东教授合作的共同成果，西安交大为唯一完成单位。本课题获得了国际电介质研究中心111引智计划(B14040)及国家自然科学基金青年项目(51202180)的支持。

　　美国电子显微分析协会(M&M)是电子显微领域内最具影响力的国际学术组织之一，该学会每年夏季举行一次年会，为电子显微领域内的学生和学者供广泛的学术交流平台。是除四年一度的IMC(International Microscopy Congress, 国际显微学大会)会议外全世界规模最大、参会人员最多的电子显微专业学术会议。

　　西安交通大学国际电介质研究中心是西安交通大学2009年新成立的国际学术研究交流中心。该中心以西安交通大学电子陶瓷与器件教育部重点实验室和微电子与固体电子学国家重点学科为依托，围绕西安交通大学建设世界知名高水平大学的总体目标，充分利用西安交大在电介质研究领域的深厚积淀与学术影响，以及国家大力引进海外高层次人才的历史机遇，吸引和培养国际一流的人才，建设国际一流的学术交流研究中心，产生一流的学术成果。该中心为研究生提供广泛的国际交流机会，每年都有数位研究生出国交流学习或参加学术会议，并有多名研究生多次在国际会议上获奖。