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仪器信息网讯 2014年10月31日,北京理化分析测试技术学会表面分析专业委员会(以下简称“委员会”)在清华大学理科楼D203会议室举行了成立仪式,之后进行了小型的技术交流,20余名从事表面分析技术研究与应用的人员参加了此次活动。
北京表面分析专业委员会成立现场
材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同,而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展,对于表面分析技术的需求日益增多。同时,由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展,表面分析技术也有了长足进步。目前,全球已经开发了数十种常用的表面分析技术,如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等。
北京理化分析测试技术学会秘书长桂三刚先生祝贺委员会成立
高校分析测试中心研究会理事长李崧教授祝贺委员会成立
国内表面分析技术起步于80年代,广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术、装备制造等领域。北京地区拥有大型表面分析仪器设备20多台,从事专业表面分析相关工作的人员有50多人,大量分布于各大高校、科研院所。迫切需要搭建学术和技术交流服务平台,以促进表面分析技术的发展和应用,壮大表面分析科学研究队伍,繁荣我国表面科学技术。
在北京理化分析测试技术学会、高校分析测试中心研究会等组织的支持下,清华大学朱永法教授、北京师范大学吴正龙教授、中科院化学所刘芬研究员、清华大学姚文清教授等表面分析科学骨干人员的努力下,北京表面分析专业委员会于今天正式宣告成立。
朱永法教授报告“委员会成立背景范围目标及拟开展的活动”
朱永法教授出任委员会第一届理事长,吴正龙教授、刘芬研究员、姚文清教授为副理事长,北京大学谢景林教授、北京化工大学程斌教授、中国计量科学研究院王海研究员、中石化石油化工科学研究院邱丽美高工为理事。
委员会以团结北京地区有关分析测试单位和分析测试工作者,促进我国分析测试科学技术的普及、开发和提高;为表面分析领域的学术交流、技术培训、标准宣贯等搭建良好的平台为宗旨。
委员会将以全国微束分析标准化技术委员会表面分析技术委员会、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心为开展活动的依托单位。今后计划开展学术交流、技术培训服务;国家标准宣贯活动;实验室间交流比对等活动。
姚文清报告“表面分析在材料中的应用”
吴正龙报告“XPS分析中样品损伤问题
与会代表合影
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