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观看超8.7万人!第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会圆满召开

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分享: 2024/08/08 16:47:50
导读: 8月5日-6日,“第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”网络会议圆满召开,线上观看人数累计超8.7万人。

仪器信息网讯8月5日-6日,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合主办的“第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”网络会议圆满召开。本次会议由仪器信息网在线直播,中国分析测试协会、蔻享学术、科研云、科学邦、邃瞳科学云等平台同步转播,线上观看人数累计超8.7万人

为期1.5天的会议,共有15位杰出的专家老师带来了精彩纷呈的报告,成功吸引了众多行业内人士的踊跃参与,通过线上平台积极互动,展开了深入的讨论。

8月5日-表面分析技术与应用专场

姚文清 清华大学/国家电子能谱中心 研究员/副主任 主持人

李景虹 清华大学国家电子能谱中心/中国分析测试协会高校分析测试分会 院士/主任/主任委员

报告题目:《表面等离子体显微成像》

表面等离体成像技术,作为无需标记、高灵敏且直观高通量的分子检测技术,已广泛应用于生命科学和材料科学。李景虹院士在研究过程中发展了SPRM成像技术,揭示病毒动态侵蚀过程;并提出电化学成像技术,以高灵敏电流原位研究电催化及表面材料性质。结合表面等离体与电化学阻抗理论,研究生物离子通路中的变化。为解决图像失真问题,引入AI图像重构技术,提升检测真实性与灵敏度。该技术还与其他纳米及电化学技术耦合,拓展功能,对纳米材料、生物反应机制及临床药物研发具重要意义。

陈伟 新加波国立大学 教务长讲席教授

报告题目:《Hydrogen Evolution via Interface Engineered Nanocatalysis》

氢气已成为一种绿色、可持续的燃料,可以满足未来全球能源需求。目前,大部分氢气仍通过蒸汽重整甲烷制得,这一过程源自有限的化石资源,并大幅增加二氧化碳排放。而由可再生能源驱动的电催化析氢反应(HER)作为一种安全、可扩展、低成本且环保的制氢途径,展现出巨大潜力。在报告中,陈伟教授总结和讨论了近期在界面控制纳米催化析氢方面的研究成果,包括通过电子金属-载体相互作用对单原子铂催化剂的氧化态进行精细调控,从而显著调节酸性或碱性HER中的催化活性;以及通过铂单原子(SAs)锚定的超薄氧化镍纳米片(NiO-Pt)引发的自门控现象,开发出高效的HER电催化剂等。

葛青亲 赛默飞世尔科技(中国)有限公司 资深应用专家

报告题目:《基于原位XPS-Raman的表面分析联用技术和应用》

XPS作为一种高效的表面分析手段,因其元素化学态敏感性和表面敏感的特性,可以很好地揭示材料的表面和界面信息。同时,随着表面分析技术拓展性的逐渐增强,结合其他分析技术,可以提供更丰富的样品信息。葛青亲主要介绍和分享了基于XPS-Raman联用分析技术的应用和解决方案,并可进一步联合SEM、REELS、ISS等技术在聚合物、碳材料、BN和MoS2等二维材料表征中提供全方位的多功能性应用。

蔡斯琪 岛津企业管理(中国)有限公司 产品专员

报告题目:《X射线光电子能谱(XPS)技术及应用》

X射线光电子能谱仪是表面分析领域中一种崭新的分析技术,通过测量固体样品表面约10nm左右被激发出光电子的动能,进而对固体样品表面的元素成分进行定性、定量及价态分析。报告中,蔡斯琪主要介绍了XPS原理、技术特点以及XPS在催化材料、电池材料、薄膜材料、电子器件等材料中的应用案例,旨在让科研工作者对XPS表面分析技术在材料领域的应用有所了解。

周小元 重庆大学 教授(杰青)

报告题目:《压电催化二氧化碳还原》

周小元教授在报告中介绍了其团队在压电催化方面的研究及成果:1)在BaTiO3中提出了压电催化CO2还原反应(PECRR)的概念并得到了验证;2)提出了一种窄带隙压电催化剂策略,用于研究压电催化的机制。首次成功获得了原位傅里叶变换红外光谱(FT-IR)观测结果;3)提出了一种通过物理混合法大规模制备高性能、低成本压电催化剂的通用简便方法;4)提出了一种适用于多种负载金属催化剂的通用压电场增强型质谱法(EFMS),该方法提高了催化剂在多种压电催化应用中的性能,并为电荷转移、尺寸效应和金属回收提供了见解。

朱永法 清华大学 教授(杰青)

报告题目:《有机共轭半导体可见光催化光水解产氢研究》

报告围绕有机超分子光催化剂的构建和产氢性。朱永法教授及其团队构建了氢键自组装的PDINH全有机超分子光催化剂。构筑的高度结晶的尿素-苝酰亚胺聚合物光催化剂,发现结晶度的提高不仅可以提升内径电场,还可以降低复合中心,从而促进光电荷的迁移。此外,还利用有机半导体光催化剂实现了光催化产双氧水。

郭茹 北京艾飞拓科技有限公司 高级应用工程师

报告题目:《TOF- SIMS飞行时间二次离子质谱仪的最新应用进展》

ToF-SIMS作为一种特殊的表面分析技术,可以接近无损的获取最表面的元素、同位素、分子等信息,拥有高质量分辨和横向空间分辨的同时,还能对样品进行高纵向空间分辨的深度剖析以及三维分析。郭茹主要从ToF-SIMS原理和工作模式、最新一代M6的性能优势和技术特色、可选择的多功能解决方案和联用技术、材料表征和实际的应用进展等几个方面进行技术分享。

张立武 复旦大学 教授

报告题目:《气-液微界面化学成像表征及理化特性》

聚焦气溶胶颗粒物的气-液界面化学过程,张立武教授及其团队开发了单颗粒微观界面受激拉曼光谱成像方法,实现了微液滴界面物质浓度和pH梯度的快速成像。研究发现,微液滴界面光化学反应速率显著高于体相,并揭示了界面电场等因素加速反应的机制。以上成果为理解大气污染物的生成和控制提供了关键科学支持,对环境保护和气候变化研究具有重要意义。

冯林 爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司 应用科学家

报告题目:《表面分析技术前沿进展及多领域联合应用探索》

表面分析技术已被广泛应用于诸多科学研究以及高科技产业中。冯林从空间分辨、深度分辨和原位表征多个维度出发,介绍表面分析技术(XPS、AES和TOF-SIMS等)的最新进展以及在多学科领域中的综合应用,包括研究材料表面微区特征组分和化学态的空间分布;研究膜层组分的深度分布;对材料进行原位测试芯能级、价带和导带电子结构等。

保秦烨 华东师范大学 教授(优青)

报告题目:《光电子能谱与能源半导体界面》

揭示半导体界面物性与器件性能之间的构效关系,对指导界面调控,提高器件性能至关重要。保秦烨教授介绍了近期研究团队基于高分辨光电子能谱技术在卤化物能源半导体界面电子结构和光伏器件能量损失方面的研究进展,为构筑高效率、高稳定半导体能源器件提供理论指导和技术支持。

董帆 电子科技大学 教授(优青)

报告题目:《光电催化过程的界面原位表征分析技术及应用》

活性氮光化学转化是重要的大气环境过程,对区域性雾霾和臭氧污染有重要贡献,对元素的地球化学循环、地球气候系统和人体健康有重要影响。董帆教授针对如何阐明含N污染物的光化学转化过程及如何实现污染物界面环境催化的定向调控等问题展开了系列研究,并建立了完备的环境催化界面原位表征方法。研究中发现电子-空穴/阴极-阳极的协同利用是提升光/电催化反应速率的有效手段;;动态活性位点的有效识别与构筑是促进光/电催化转化效率的关键。

8月6日-表面化学分析国家标准宣贯会专场

刘芬 全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会 秘书长 主持人

卓尚军 中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员

报告题目:《GB/T 42518-2023 锗酸铋(BGO)晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》

锗酸铋(BGO)晶体是高能粒子探测的关键材料,广泛应用于核医学成像、高能物理、天体物理、石油测井、安检和工业在线检测等领域。辉光放电质谱法是BGO晶体中痕量杂质检测的理想方法。报告中,卓尚军研究员对《GB/T 42518-2023 锗酸铋(BGO)晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》标准进行了详细解读。

刘凌玉 中数云通科技有限公司 合伙人

报告题目:《“仪站”到底 降本增效》

将保险机制与各类仪器设备维保服务相结合,以一种新型维保服务形式为仪器设备提供售后支持,立足于解决质保期以外仪器设备维修难、维修慢的问题,可以使有限的科研资金实现最大程度的优化利用,利用模式创新、内容创新、技术创新,构建了实现各方需求均衡的全新售后服务新机制。

邱丽美 石油化工科学研究院 研究员

报告题目:《GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析》

全反射X射线荧光光谱(TXRF)是利用X射线束能在样品表面产生全反射激发进行X射线荧光分析的装置和方法,其原理主要涉及X射线的全反射现象。在地质、冶金环保、考古、生物医学、材料科学等领域得到了广泛的应用。邱丽美研究员详细阐述了标准中关于样品处理流程、TXRF检测技术实施细则以及数据处理方法的具体规定。

陈建 中山大学 研究员

报告题目:《GB/T 43661-2024表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准》

陈建研究院描述了用于测量扫描电容显微镜(scanningcapacitancemicroscope,SCM)或扫描扩展电阻显微镜(scanningspreadingresistancemicroscope,SSRM)空间(横向)分辨的方法,该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。

[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载

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作者:张张

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