1st Detect一项独特离子阱关键专利获批

　　2014年5月1日消息 Astrotech旗下子公司1st Detect公司今天宣布，其一项用于化学分析和检测的独特离子阱的关键专利获得了美国专利商标局(USPTO)的批准。

　　该专利名为“用于离子阱的端盖电压控制”(End Cap Voltage Control of Ion Traps)，专利编号为8,704,168，它代表的是1st Detect的一项关键技术优势，该技术能够在不增加仪器的复杂性或成本的情况下，提高微型质谱仪的灵敏度和分辨率。

　　1st Detect公司董事长兼首席执行官Thomas B Pickens III表示：“我们非常高兴USPTO能够批准这项专利。这项专利是我们知识产权的重要组成部分。这项专利允许1st Detect无需增加仪器的体积和成本，就可以提高小型质谱仪性能。这项专利充分证实了我们的技术实力，并对1st Detect在质谱仪方面的取得的成就进行了展示与保护。”

　　去年12月10日， 1st Detect公司一项名为“具有非对称端盖开孔的离子阱质谱仪”(A Mass Spectrometer Ion Trap Having Asymmetric End Cap Apertures)的关键专利被USPTO批准发布，专利专利编号为8,610,055。[了解更多]

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（编译：刘玉兰）