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2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座 现代科学技术中,观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为 研究者们提供了分析和操作纳米世界的眼和手。因此,自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖 了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,生物传感 器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。通过布鲁克2013年原子力显微镜测量技术一系列讲座, 大家已经对AFM的基本原理及成像模式, AFM技术的发展进展,及其最新最先进的应用和功能,有了全面的了解。 在2013 年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的最后一讲,我们将重点介绍探针的基本信息以及如果合理选 择AFM探针。在AFM的测量以及数据分析过程中,探针有着举足轻重的作用。合理选择探针,可以帮助操作者快速 高效地获得高质量的实验数据。帮助AFM用户掌握获得高品质图像,获取实验数据的技巧;为用户更深入的研究工 作打下良好的基础。
布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座往期精彩回放: 第一讲 : 原子力显微镜简介及成像技巧 (点击观看精彩回放) 主讲人:李永君 博士 报告时间:2013年3月28日 第二讲 :原子力显微镜在生物学研究中的应用进展 (点击观看精彩回放) 主讲人:龙飞 博士 报告时间:2013年4月16日 第三讲 :原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展(点击观看精彩回放) 主讲人:仇登利 博士 报告时间:2013年5月21日 第四讲:利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征的最新进展(点击观看精彩回放) 主讲人:孙万新 博士 报告时间:2013年6月25日 第五讲:基于扫描探针显微镜的电学表征技术(点击观看精彩回放) 主讲人:孙昊 博士 报告时间:2013年7月9日 第六讲:如何合理选择AFM探针获取高分辨图像 主讲人:陈苇纲 博士 报告时间:2013年12月17日
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[来源:布鲁克(北京)科技有限公司(BRUKER)]
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