中国贵金属、珠宝分析检测技术交流研讨会在天瑞大厦圆满落幕

　　2009年11月13日，由来自全国各个珠宝检测分析站站长参加的中国贵金属、珠宝分析检测技术交流研讨会在昆山清华科技园天瑞大厦隆重召开。

刘博士介绍天瑞仪器公司产品        

　　11月13日上午9时，研讨会在天瑞大厦一楼展厅正式开始。天瑞仪器公司董事长刘昭贵博士发表了“贵金属成份及饰品有害元素检测解决方案”的演讲，介绍了XRF分析仪器在贵金属及有害元素检测中的原理及特点，并且讲了天瑞仪器公司针对贵金属成份及有害元素检测的仪器，着重介绍了EDX3000、EDX3000D、EDX3600B尤其是SUPER XRF1000

　　在贵金属检测中的突出特性，同时对天瑞仪器未来的 “大研发、大生产、大营销、大品 牌”的发展战略进行了展望。会议现场，来自中国各省的贵金属、珠宝分析检测站的领导、嘉宾在研讨会上就检测技术进行了热烈交流和探讨，不时爆发阵阵掌声和热烈赞赏的笑声。

研讨会现场嘉宾提问

　　同日下午嘉宾们参观了天瑞仪器产业园，随后观摩了相关型号仪器的现场演示。一番参观演示后，与会嘉宾都对天瑞仪器近两年来的快速发展表示惊叹，同时各检测站均对天瑞众多仪器在贵金属成份及饰品有害元素中的精度检测和优良特性的给予了肯定。同时不少嘉宾饶有兴趣地与研发、技术人员交流了仪器在工作中的扩展用途。

嘉宾们与刘博士现场交流

嘉宾们观摩仪器演示

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