高精度测厚仪 塑料薄膜测厚仪 无纺布厚度检测仪

C640高精度测厚仪 塑料薄膜测厚仪 无纺布厚度检测仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。Labthink，致力于通过包装检测技术提升和尖端检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。如需报价敬请电话咨询济南兰光！

设备技术特征：

1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。

2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。

3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。

C640高精度测厚仪 塑料薄膜测厚仪 无纺布厚度检测仪测试原理：

将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

执行标准：

ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）

应用材料：

基础应用：

薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定

纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定

扩展应用：

金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定

瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定

纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定

非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定

其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定

C640高精度测厚仪 塑料薄膜测厚仪 无纺布厚度检测仪技术指标：

① C640M型号参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1μm 

重复性：0.8μm

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速度：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

DataShieldTM数据盾：可选配置

GMP计算机系统要求：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

净重：26kg

② C640H型号参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重复性：0.4μm

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速度：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

DataShieldTM数据盾：可选配置

GMP计算机系统要求：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

净重：26kg