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产地类别: 国产
兰光压力测厚仪PARAM博每CHY-C2A的工作原理介绍
压力测厚仪PARAM博每CHY-C2A的使用方法?
兰光PARAM博每CHY-C2A多少钱一台?
压力测厚仪PARAM博每CHY-C2A可以检测什么?
压力测厚仪PARAM博每CHY-C2A使用的注意事项?
兰光PARAM博每CHY-C2A的说明书有吗?
兰光压力测厚仪PARAM博每CHY-C2A的操作规程有吗?
兰光压力测厚仪PARAM博每CHY-C2A报价含票含运吗?
兰光PARAM博每CHY-C2A有现货吗?
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EVA胶膜的透光率和剥离强度测试方法介绍
EVA胶膜的透光率和剥离强度测试方法介绍 摘要:EVA胶膜是一种以EVA为基材经过挤压成型工艺形成的热固性膜状热熔胶,与硅晶片、玻璃、背板粘接制成太阳能电池板。其透光率和剥离强度对太阳能电池的寿命起着至关重要的作用。本文从试验的角度,论述了EVA胶膜透光率和剥离强度的测试方法,以期为相关企事业单位和科研院校提供一定的科研帮助。 关键词:EVA胶膜,透光率、剥离强度、XLW(PC)智能电子拉力试验机
建材/家具
2015/05/20
薄膜太阳能电池材料质量安全控制解决方案
在太阳能电池的各组件中背板的作用不容小觑,背板起着保护光伏组件中的电池片的作用;用于太阳能电池组件封装的背板一般又被称为TPT 聚氟乙烯复合膜,TPT一般常用三层结构(PVF/PET/PVF),外层保护层PVF具有良好的抗环境侵蚀能力,中间层为PET聚脂薄膜具有良好的绝缘性能,内层PVF需经表面处理和EVA具有良好的粘接性能。通常,太阳能电池产品使用年限一般按照25年以上设计,要确保产品达到如此长的使用期限,就需要严格控制各组件质量。 Labthink兰光推出多款检测仪器,专业用于薄膜太阳能电池材料的阻隔性能、剥离强度、材料厚度检测,帮助企业对薄膜太阳能电池进行质量控制。
建材/家具
2011/08/19
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光伏组件封装用背板的断裂伸长率测试方法及检测数据
光伏组件封装用背板的断裂伸长率测试方法及检测数据 光伏组件封装用背板是用在光伏组件上的一种保护性材料,为组件提供外层绝缘保护及强度支撑,以此保护硅片在野外恶劣环境下二十五年乃至更长时间都能正常工作。背板一旦出现断裂,则无法继续为组件提供保护,则影响光伏组件的使用寿命。那么背板材料的断裂伸长率也是考量背板性能的一项重要指标。 了解关于更多相关仪器信息,您可以登陆www.labthink.com查看具体信息或致电0531-85068566咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。
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2016/06/08
包材生产企业必备检测仪器一览表
包材生产企业必备检测仪器一览表 Labthink兰光拥有先进的检测技术与专业实验室,致力于为全球范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供最优秀、最全面的品质控制解决方案。了解详情请致电:济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询
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2012/02/22
WGT-S透光率雾度测定仪
WGT-S透光率雾度测试仪用于一切透明、半透明平行平面样品(塑料板材、片材等)透光率雾度的测试、液体样品(水、饮料等)的浊度或澄明度测定。 以上信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!
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2011/09/14
TSY-W3/3电解法透湿率测试仪
适用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、背板、片材、建筑保温材料、防水卷材等材料,瓶、袋等各种包装容器;以及卫生医疗领域多种高阻隔材料的水分渗透特性的测定。通过水蒸气透过率的测定,达到控制与调节包装材料等产品的技术指标、满足产品应用的不同需求。 特 征 计算机与嵌入式系统计算机二种控制模式 主机微电脑控制、液晶显示 菜单式界面、PVC操作面板 三腔独立测试 恒温控制 湿度调节 可选成品容器水蒸气透过率测试 标准膜快速校准 微型打印机 RS232接口 网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输 工作原理 将待测试样装夹在恒温的干、湿腔之间,试样两侧存在一定的湿度差,由于湿度梯度的存在,水蒸气会从高湿腔向低湿腔扩散,在低湿腔,水蒸气被干燥载气携带至传感器,进入传感器时会产生同比例的电信号,通过对传感器电信号的分析计算,从而得到试样的水蒸气透过率和透湿系数。 标 准 GB/T 21529、ISO 15106-3、DIN 53122-2、YBB 00092003
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2011/06/07
机械接触式测厚仪介绍
机械接触式测厚仪,主要采用机械接触式测量方法,适用于适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。测厚仪符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。 愈了解详情,请致电济南兰光0531-85068566咨询。
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2011/03/24
济南兰光CHY-CA型单晶硅片测厚仪技术资料
济南兰光CHY-CA型单晶硅片测厚仪技术资料。如欲了解更详细信息,欢迎致电济南兰光机电技术有限公司(0531-85068566)垂询。
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2011/03/15
济南兰光机电技术有限公司
公司地址
济南市无影山路144号
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