Agilent 5800 ICP-OES

ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导体产业链端客户密切合作，引领着 ICP-MS 在全球半导体产业链中的应用不断创新。

本研究开发出用邻二甲苯 1:10 (w/w) 稀释石油样品，直接上机用ICP-OES 快速分析其中 16 种油溶性元素的方法。该方法的 MDL 和精密度可以满足对于原油中这些油溶性元素检测的要求。

本文介绍了一种使用 ICP-OES 测定金属样品基体中，氢氟酸介质下硅元素的方法，采用了安捷伦无硅涂层的耐氢氟酸进样系统，克服了常规 ICP-OES 分析氢氟酸介质空白值高的缺点，获得了较低的空白值，适合于测定多种金属基体中不同含量范围的硅元素。

使用 Agilent 5800 VDV ICP-OES 和 Agilent ADS 2 自动稀释器自动分析锂离子电池前驱体化学品

本文介绍了一种使用 ICP-OES 同时准确测定锂电池 CoSO 4 回收溶液中杂质元素的方法。该方法采用稀释模式，直接分析约 30% CoSO 4 锂电池回收溶液中的杂质元素。其具有良好的基体耐受性，灵敏度、准确度和稳定性出色，且分析效率较高，能够满足日常测定杂质元素的分析要求。

Quality control of unrefined cathode-metal solutions from recycled LIBs by Agilent 5800 VDV ICP-OES

Quality assurance of lithium-ion battery precursor chemicals by Agilent 5800 VDV ICP-OES

Analysis of cathode raw materials for Li-ion batteries by Agilent 5900 ICP-OES

本文介绍了一种使用 ICP-OES 准确测定磷酸铁锂正极材料中 Li、Fe 和 P 元素的方法。该方法具有出色的准确度和精密度，满足常量分析要求，且分析速度和效率优于传统化学分析方法。

Agilent 5800 VDV ICP-OES 智能功能可最大程度减少 样品重新测量

中国 HJ 781-2015 方法概括了采用四酸微波消解法进行样品前处理的固体废物样品中 22 种元素的测定程序。这种复杂样品消解物中通常包含方法的非靶向元素。如果不考虑这些额外元素（通常是未知元素）的存在，则可能导致光谱干扰。光谱干扰可能导致结果错误并迫使样品重新测量，从而造成时间浪费。

安捷伦的 IntelliQuant 功能可自动识别可能的光谱干扰和未知元素，为样品组成提供有价值的见解。IntelliQuant 可在数秒钟内完成样品中多达 70 种元素的鉴定。可以过滤结果数据，仅显示感兴趣的结果（元素）。在本研究中，通过对工业废物 NIST SRM 2782 的分析，验证了仪器的性能。获得的回收率在 ±10% 范围内。

根据中国 HJ-804 方法配制分析用土壤样品。采用配备 AVS 6 切换阀系统和 SPS 4 自动进样器的 Agilent 5800 VDV ICP-OES，对 DTPA 提取土壤样品中的 8 种生物可利用元素进行了测量。借助于 Agilent ICP Expert 软件的 IntelliQuant Screening 等功能进行方法开发。该方法提供高质量的分析结果，并最大程度减少不得不进行的样品重新测量。启用IntelliQuant 的定量工作表提供了半定量分析，同时提供对样品的深入研究，来补充定量数据。

安捷伦的 IntelliQuant 功能可自动识别可能的光谱干扰和未知元素,为样品组成提供有价值的见解。IntelliQuant 可在数秒钟内完成样品中多达 70 种元素的鉴定。可以过滤结果数据，仅显示感兴趣的结果（元素）。 在本研究中，通过对工业废物 NIST SRM 2782 的分析，验证了仪器的性能。获得的回收率在 ±10% 范围内。

使用 ICP-OES 分析样品时，需要考虑的一个主要问题是样品中总溶解态固体 (TDS)的含量。许多常见样品中含有高浓度的 TDS，例如环境实验室常分析的土壤、污泥和盐溶液等样品，以及矿物、采矿和土壤实验室日常分析的各种酸消解液和熔融物等。 样品中的 TDS 含量通常决定了使用哪种 ICP-OES 仪器进行分析。一般来说，分析TDS 含量不超过 3% 的样品时，通常会使用配备水平炬管的 ICP-OES 仪器。分析TDS 含量更高的样品时，则通常会使用带垂直炬管的径向观测仪器。分析高 TDS 样品时，还需注意要使用稳定的射频 (RF) 发生器系统以及可应对复杂样品的炬管。

本文介绍了一种使用 ICP-OES 同时准确测定磷酸锰铁锂中主量元素与杂质元素含量的方法。该方法将稀释模式与非稀释模式相结合，通过一次分析即可测定主量元素和杂质元 素，而无需单独测定，方便快速；具有出色的灵敏度、准确度和稳定性，能够满足日常测定磷酸锰铁锂中主量元素与杂质元素的分析要求，且分析效率优于传统分析方法。

本研究使用 Agilent 5800 ICP-OES 对细胞培养液样品中的有机硅消泡剂进行测定。采用该方法将单个样品平行测定 3 次，时间短于 1 分钟，极大提升了样品通量；并具有实现在线实时监测的潜力；实际样品加标回收率均在 90% 左右；且整个体系不存在样品残留等问题；无需经过色谱分离，快速简便。非常适合用于生物制药行业中。