TX 2000 全反射X荧光光谱仪

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ Co、Cr 等多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ Cu、Fe等多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ K，Mn等多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

古老的油画和历史手稿是宝贵的文化遗产，这些文物所用的颜料和墨水等原料让人们能够深入了解艺术史实等信息。此外，对油墨等原料的相关检测还能够提供原产地溯源、真伪等诸多信息，甚至对后续的修缮工作具有指导性作用。在诸多检测手段中，元素检测是重要的一项，其常见的检测手段有：原子吸收、原子发射、质谱法、电子探针、中子活化分析、XRF等。

常见难溶样品如：碳化硼、碳化硅、氮化硼在磨料、特种刀具、核工业等领域有广泛的应用。

基于X射线荧光能谱法， 全反射X射线荧光(TXRF)采用毫弧度的临界角，由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X射线光束几乎全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声。

全反射X射线荧光(TXRF)是一种微量分析方法，特别适用于样品量小的样品，一次分析所需样品量，固体材料可达μg级，液体样品则通常少于100μL。

全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限（低至ppt或pg），与其它具有类似元素检出限的检测手段相比，具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。

全反射X射线荧光(TXRF)是一种微量分析(Microanalysis)方法，特别适用于样品量小的样品，一次分析所需样品量，固体材料可达微克级，液体样品则通常少于100μL。但一般原样很少能直接上机检测，多数需要将对样品进行预处理得到溶液、悬浊液、细粉或薄片等。

全反射X荧光光谱仪（TXRF）的检测限已达到皮克级别，其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中，涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业。

全反射X荧光光谱仪（TXRF）的检测限已达到皮克级别，其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中，涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业。

近年来，流行病学研究表明，暴露在富含颗粒物(PM)的空气环境中会对健康产生不利影响。这些研究表明，为了了解它对人类健康的影响，不仅需要了解这些颗粒物的来源、传输媒介，而且还必须研究它们的化学组成及物理性质。本文使用X射线驻波及全反射X射线荧光法两种方法检测大气中PM2.5含量。