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当前位置: 上海麦科威 > 台阶仪 > Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL

Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL

品牌: 布鲁克
产地: 美国
型号: Dektak XTL
报价: 面议
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核心参数

产地类别: 进口

测量原理: 电容式

测量范围: 二维表面轮廓测量

探针尖半径: 50nm~25um

扫描长度: 55mm 2英寸

测量样品最大尺寸: 50mm

产品介绍

Dektak XTL 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计,具有易用的联锁门,是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力,其高自动化水平可大限度地提高测试通量。


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增强的软件功能使 Dektak XTL 成为功能强大、容易使用的探针式轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件,通过数百种内置分析工具实现众多的测量位点、3D成像和高度自定义的特征分析。Vision64软件还能测量形状,如曲率半径。模式识别可大限度地减少操作员误差并提高测量位置精度。集成化的软件包将数据收集和分析与直观的工作流程相结合。



image.pngDektak XTL 以 50 多年的探针式轮廓仪的专业知识和生产设施的应用程序定制为基础,以满足当今和未来严格的行业路线图。300 毫米高精度编码 XY样品台为制造商提供了满足严格计量研发要求的可靠工具。Dektak 的双摄像头控制与高清放大双视场相机提供增强的空间感知。实时视频中的点击定位使操作员能够快速将样品移动到正确的位置,以便快速轻松地进行测量设置和自动化编程。该系统的大型联锁门为样品装载/卸载提供了安全、方便的访问。


其他硬件功能包括:

  • 单拱形架构和集成振动隔离系统

  • 快速更换自对齐探针

  • 高精度编码 XY 样品台,实现更快的自动数据收集

  • N-Lite 低力,采用软触控技术,具有 1mm 测量范围,可同时用于测量精密和高垂直范围样品


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布鲁克台阶仪Dektak XTL的工作原理介绍

台阶仪Dektak XTL的使用方法?

布鲁克Dektak XTL多少钱一台?

台阶仪Dektak XTL可以检测什么?

台阶仪Dektak XTL使用的注意事项?

布鲁克Dektak XTL的说明书有吗?

布鲁克台阶仪Dektak XTL的操作规程有吗?

布鲁克台阶仪Dektak XTL报价含票含运吗?

布鲁克Dektak XTL有现货吗?

工商信息

企业名称

上海麦科威半导体技术有限公司

企业信息已认证

企业类型

有限责任公司(自然人独资)

信用代码

91310112MAE0AUKG7R

成立日期

2024-09-23

注册资本

人民币100.0000万元整

经营范围

一般项目:技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广;仪器仪表修理;日用电器修理;专用设备修理;信息咨询服务(不含许可类信息咨询服务);信息技术咨询服务;软件开发;科技中介服务;组织文化艺术交流活动;会议及展览服务;安全咨询服务;信息系统集成服务;市场营销策划;半导体分立器件销售;半导体照明器件销售;半导体器件专用设备销售;电子元器件批发;电子元器件零售;光电子器件销售;仪器仪表销售;光学仪器销售;智能仪器仪表销售;电子产品销售;电子专用材料销售;电子专用设备销售;电力电子元器件销售;集成电路销售;集成电路芯片及产品销售;电子真空器件销售;通信设备销售;机械设备销售;网络设备销售;计算机软硬件及辅助设备批发;计算机软硬件及辅助设备零售;互联网销售(除销售需要许可的商品);办公用品销售;金属材料销售;电气设备销售;通讯设备销售;货物进出口;技术进出口。(除依法须经批准的项目外,凭营业执照依法自主开展经营活动)

联系方式
上海麦科威半导体技术有限公司为您提供Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL,布鲁克Dektak XTL产地为美国,属于进口台阶仪,除了Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多台阶仪,上海麦科威客服电话400-860-5168转6289,售前、售后均可联系。
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