反射光谱膜厚仪

反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍：

1. 测量范围与精度：

   - 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度，具有高达0.1纳米的测量精度。

2. 测量功能：

   - 在折射率未知的情况下，SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度，还能同时测量其折射率。

   - 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。

3. 测试原理：

   - 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线，并根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。

4.软件支持：

   - 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件，界面友好，操作简便。

   - 软件功能强大，支持多层膜厚的测试，并可对多层膜厚参数进行测量。

   - 提供大量的光学常数数据及数据库，支持多种折射率模型，如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。

5. 特点与优势：

   - 先进的光学设计和探测器系统，确保系统性能优越和快速测量。

   - 光源设计独特，具有较好的光源强度稳定性。

   - 提供多种方法来调整光的强度，以满足不同测量需求。

   - 配备微电脑控制系统，大液晶显示和PLC操作面板，便于用户进行试验操作和数据查看。

   - 支持自动和手动两种测量模式，以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。

6. 应用领域：

   - 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业，特别是在薄膜分析领域表现出色。

综上所述，反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域，成为薄膜厚度测量领域的理想选择。