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南通宏腾微电子技术有限公司

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仪器（193）耗材配件试剂标物品牌（0）

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全部退火炉原子层沉积设备有掩模光刻机其他物理气相沉积设备等离子体刻蚀设备探针台外延系统划片机键合机匀胶机去胶机光学薄膜测量设备纳米压印设备无掩模光刻机/直写光刻机少子寿命测试仪薄膜应力测试仪单晶炉化学气相沉积设备干法清洗设备焊线机掩模光刻胶处理及清洗设备涂胶显影设备信号测试系统/半导体测试机四探针方阻测试仪高斯计/磁强计开尔文探针系统其它表面测试纳米压痕仪、划痕仪其它磁性测量系统永磁材料磁性测量仪核磁共振(NMR) 气质联用(GC-MS) 其它光谱仪辉光放电光谱仪激光拉曼光谱(RAMAN) 瞬态吸收光谱仪电化学工作站、恒电位仪石英晶体微天平霍尔效应测试仪航空/航天扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）扫描电镜（SEM）光度仪、雾度仪、光泽度仪椭偏仪其它光学测量仪涂布机等离子体表面处理仪电热板低温恒温器其它测量/计量仪器台阶仪其它

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CB500纳米划痕仪NANOVEA

品牌： NANOVEA

型号： CB500

产地：美国

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PS50美国Nanovea三维光学轮廓仪

品牌： NANOVEA

型号： PS50

产地：美国

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JR25型三维表面形貌仪NANOVEA

品牌： NANOVEA

型号： JR25

产地：美国

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HS1000型三维表面形貌仪

品牌： NANOVEA

型号： HS1000

产地：美国

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氩离子截面抛光仪

品牌：日本电子

型号： IB-19530CP

产地：日本

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JEOL时间飞行质谱仪

品牌：日本电子

型号： AccuTOF™

产地：日本

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JEOL触摸屏控制热场发射扫描电子镜

品牌：日本电子

型号： JSM-IT700HR

产地：日本

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JEOL钨灯丝扫描电子显微镜SEM

品牌：日本电子

型号： JSM-IT510

产地：日本

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无液氦低温强磁场共聚焦显微镜

品牌： Attocube Systems AG

型号： attoCFM I

产地：加拿大

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无液氦低温强磁场扫描探针显微镜

品牌： Attocube Systems AG

型号： attoDRY Lab

产地：加拿大

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nGauge便携式芯片原子力显微镜AFM

品牌： ICSPI

型号： nGauge

产地：加拿大

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科研磁学测量系统

品牌： Metis

型号： MOP3

产地：英国

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Metis软磁测量系统

品牌： Metis

型号： HyMAC

产地：英国

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Metis充磁系统

品牌： Metis

型号： CDM-M

产地：英国

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Metis硬磁材料测量系统（脉冲磁滞回线）

品牌： Metis

型号： HyMPulse

产地：英国

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CRESTEC电子束光刻系统EBL 130KeV

品牌： CRESTEC

型号： CABL-UH（130kV）series

产地：日本

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CRESTEC电子束光刻系统EBL 50KeV

品牌： CRESTEC

型号： CABL-AP（50kV）series

产地：日本

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JEOL电子束光刻系统EBL

品牌：日本电子

型号： JBX-3200MV

产地：日本

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Raith电子束纳米光刻机EBL 30KeV

品牌： Raith

型号： Raith150TWO

产地：美国

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Raith 电子束光刻系统EBL 50KeV

品牌： Raith

型号： VOYAGER

产地：美国

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英国Korvus公司磁控溅射/热蒸发/电子束镀膜系统（PVD）

品牌： Korvus Technology

型号： HEX-L

产地：英国

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英国Korvus公司磁控溅射/热蒸发/电子束镀膜系统（PVD）

品牌： Korvus Technology

型号： HEX

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Beneq Genesis ALD原子层沉积系统

品牌： Picosun

型号： Genesis ALD

产地：芬兰

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Beneq P400A & P800 原子层沉积系统

品牌： Picosun

型号： P800 ,P400A

产地：芬兰

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BENEQ 原子层沉积系统ALD P400A

品牌： Picosun

型号： P400A

产地：芬兰

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BENEQ 原子层沉积系统 TFS 500

品牌： Picosun

型号： TFS 500

产地：芬兰

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Beneq 原子层沉积 TFS 2OO

品牌： Picosun

型号： TFS 200

产地：芬兰

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PICOSUN原子层沉积系统 R-300 Pro

品牌： Picosun

型号： R-300 Pro

产地：芬兰

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PICOSUN原子层沉积P-300B

品牌： Picosun

型号： P-300B

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PICOSUN原子层沉积系统ALD R-200基础版

品牌： Picosun

型号： R-200

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原子层沉积设备等离子体刻蚀设备退火炉少子寿命测试仪外延系统光学薄膜测量设备薄膜应力测试仪无掩模光刻机/直写光刻机

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