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半导体测试专用 快速温变试验箱概要:
适用于半导体、仪器、仪表、电工、电子产品,为电子零组件,成品、半成品、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化)
半导体测试专用 快速温变试验箱特点:
1.内箱材料采用SUS304不锈钢;外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格,具有耐用性和抗磨损性等特点
2.先进的冷平衡控制技术,实现冷量自动调节,节能环保
3.独特的风道设计,提供大风量循环的同时保证温度均匀度
4.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送,手机程序监管及兼容MES数据交互
5.具有程式修正,清除,预约启动,停电记忆等功能
6.升温,降温,加湿,除湿之所有元件,完全由微电脑自动控制,系统个别完全独立
7.对应客户所需求的快速温度变化试验要求能进行特殊设计。同时合理的结构设计,优化的冷冻设计,完善的内部控制核心,满足5℃/分钟,10℃/分钟,15℃/分钟的升降温要求,最快能够做到25℃/分钟
8.设备采用模块化微控技术,具有自我诊断功能,智能故障解除提示及断电讯息保护功能
半导体测试专用 快速温变试验箱规格参数:
型号
KTK-408
KTK-4800
KTK-1600
KTK-2000
内部尺寸
(WxHxD) cm
80x85x60
100x100x60
100x125x95
150x150x100
容积/L
408
800
1600
2000
温度范围
-70℃~+100℃(150℃)
( A:0℃ B:-20℃ C:-40℃ D:-60℃ E:-70℃)
湿度范围
(仅湿度型)
10%~98%RH
温湿度控制稳定度
±0.3℃;±2.5%RH
温度分布偏差
1.0℃(-40~100℃) /+1.5℃(-40.1~-70℃:100.1~150℃)
±3% R.H(>75%)/±5% RH(≤75%)
升温速度
3~25(℃/min)
降温速度
可选设备
干风吹扫 (Dry Air Purge);时序插座 (Power Supply Socket)
大视窗 (Large Viewing Window); 玻璃中门(Glass Door);
液氮 (Liquid Nitrogen)
满足的标准及试验方法
GB11158、GB10589、GB10592、GB/T 24231 GB/T 2423.2、GB/T 2423.3GB/T 2423.4、GB/T10586、GJB150.3、GJB1504GJB150.9、IEC60068-2
企业名称
合肥巨阙电子有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
91340104MA2UMTJG9D
成立日期
2020-04-14
注册资本
壹仟万圆整
经营范围
其他电子设备制造;自动化设备、智能装备、非标自动化设备的研发、集成、销售及技术服务;气候环境模拟和可靠性试验设备制造;新型显示器件测量仪器制造;新型显示设备销售:电子产品批发;电子科技研发;五金产品批发;电子元器件与机电组件设备制造:微机电系统生产设备制造;试验机械,检测仪器、器具零件制造:光学检测仪器及设备制造;产品制造过程管理和控制软件;测试软件开发;应用软件开发;其他软件开发;电子线缆组件、电子线束制造(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
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