半导体测试专用 快速温变试验箱

型号

KTK-408

KTK-4800

KTK-1600

KTK-2000

内部尺寸

（WxHxD) cm

80x85x60

100x100x60

100x125x95

150x150x100

容积/L

408

800

1600

2000

温度范围

-70℃～+100℃（150℃）

( A:0℃  B:-20℃  C:-40℃    D:-60℃  E:-70℃)

湿度范围

(仅湿度型）

10%～98%RH

温湿度控制稳定度

±0.3℃;±2.5%RH

温度分布偏差

1.0℃(-40～100℃) /+1.5℃(-40.1～-70℃:100.1～150℃)

±3% R.H(>75%)/±5% RH(≤75%)

升温速度

3～25(℃/min)

降温速度

3～25(℃/min)

可选设备

干风吹扫 (Dry Air Purge);时序插座 (Power Supply Socket)

大视窗 (Large Viewing Window); 玻璃中门(Glass Door);

液氮 (Liquid Nitrogen)

满足的标准及试验方法

GB11158、GB10589、GB10592、GB/T 24231 GB/T 2423.2、GB/T 2423.3GB/T 2423.4、GB/T10586、GJB150.3、GJB1504GJB150.9、IEC60068-2