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核心参数
产地类别： 进口
工作温度： 非制冷型
测量方式： 非接触式
用途： 测温型
响应波长： 中波
热灵敏度/NETD： <20mk
测温范围： 室温〜300
精度： ±2°C或±2％
Optotherm Thermal Emmision Microscope/ 热发射显微镜系统，可用于微器件测温及失效分析如 IC，PCB，PCBA，LED等等电子产品的缺陷热点定位。
温度分辨率：< 0.001℃
光学分辨率：5um
低侦测功耗: <5uw
最快定位时间：< 5s
热发射显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。
而OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统,标配LOCK IN THERMOGRAPHY锁相热成像技术，将锁相技术和热成像技术有机结合，获得超过1mk以上的温度分辨率，对uA级漏电流或微短路等导致的缺陷，提供了非常好的解决方案。
利用锁相技术，将温度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以侦测uA级漏电流和微短路缺陷
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企业名称
深圳市立特为智能有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司
信用代码
91440300319535293G
成立日期
2014-11-12
注册资本
5000000
经营范围
经营范围包括一般经营项目是：从事电子及半导体及与其相关联的领域，硬件及软件及相关产品的研发、销售及服务；机电一体化产品、自动化控制产品、生产及测试设备和软件产品、环保自动在线监测仪、计算机软件、信息系统物件的开发、销售，信息咨询服务；信息系统设计、集成、技术运行维护；集成电路设计、研发；国内贸易；货物及技术进出口
深圳市立特为智能有限公司
公司地址
广东省深圳市光明新区
客服电话
公司名称： 深圳市立特为智能有限公司
公司地址： 广东省深圳市光明新区 联系人： 罗小姐 邮编： 518000 联系电话： 400-860-5168转6017
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