德瑞检测 高温换气老化箱DR-H306-100

GB/Z 5169.32-2013电工电子产品着火危险试验 第32部分：热释放 绝缘液体的热释放

1 范围 GB/T5169的本部分规定了在电工电子产品用绝缘液体暴露于规定的有火花点火的热通量时，测量绝缘液体燃烧产生的热释放的定量试验方法，并可测定产烟量、起燃时间和质量报失。本部分也适用于其他液体试样。 危险警告：用本装置测试挥发性液体时可能发生爆炸，因此应按8.1规定的初始试验程序检查所有液体。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 16172—2007 建筑材料热释放速率试验方法（ISO 5660-1：2002，IDT） ISO5660-2：2002 对火的反应试验 热释放、产烟量及质量损失率 第2部分：产烟速率（动态测量）（Reaction-to-fire tests—Heat release，smoke production and mass loss rate—Part 2：Smoke produc-tion rate(dynamic measurement))

GB/T 5169.27-2008电工电子产品着火危险试验 第 27部分：烟模糊 小规模静态试验方法仪器说明

1 范围 GB/T5169的本部分描述了测定材料垂直暴露在辐射热源（无论是否使用引燃火焰）下产生的烟的比光密度的仪器、校准程序和基本试验过程。试验样品的尺寸已经确定。光密度的测定在事先用参考物质校准过的可控压力控制箱中进行。 本方法只适用于固态的、非金属平面样品。不适用于非平面的样品，例如绝缘电线和电缆，因为这样的产品不能获得均匀的热通量分布。 本部分不为材料提供分级。 本方法不适用于在热流的直接冲击下熔融且流走的材料，因为其不能获得重复的结果。警告：因为试验样品的热解或燃烧会产生有毒和有害的气体，所以要采取适当的安全措施。

GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验

1 范围 本部分规定了军用装备实验室高温试验的目的与应用、剪裁指南、信息要求、试验要求、试验过程和结果分析的内容。 本部分适用于对军用装备进行高温试验。 2 引用文件 下列文件中的有关条款通过引用而成为本部分的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本部分的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GJB 150.1A-2009军用装备实验室环境试验方法 第1部分：通用要求 GJB 150.7A-2009军用装备实验室环境试验方法 第7部分：太阳辐射试验 GJB 1172.2-1991 军用设备气候极值 地面气温GJB 4239装备环境工程通用要求 3 目的与应用 3.1 目的 本试验的目的在于获取有关数据，以评价高温条件对装备的安全性、完整性和性能的影响。 3.2 应用本试验适用于评价在高温环境中使用的装备。 3.3 限制 本试验仅适用于评价时间相对较短(数月而不是数年)、整个试件热分布均匀的热效应，一般不适用于： a) 评价长期稳定地暴露于高温条件(贮

GB/T 32065.5-2015 海洋仪器环境试验方法 第5部分：高温贮存试验

1 范围 GB/T 32065的本部分规定了海洋仪器高温贮存试验的试验要求、试验过程及相关信息。本部分适用于考核或确定海洋仪器在高温环境条件下贮存的适应性。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 32065.1—2015海洋仪器环境试验方法 第1部分：总则 3试验要求 3.1 一般要求 海洋仪器高温贮存试验的标准大气条件、试验样品安装、试验温度稳定、试验中断处理等应分别按照GB/T 32065.1—2015中4.2、6.1、6.2和第7章的规定进行。 3.2试验设备 3.2.1试验设备应符合GB/T 32065.1—2015中第5章的规定。 3.2.2试验时，试验样品应尽可能的靠近试验箱(室)的中央，其任何表面与对应的试验箱(室)壁间的最小距离应大于15 cm,且试验箱(室)内的风速应不大于1.7m/s。 3.2.3试验样品在试验箱(室)内应不受任何发热和冷却元件的直接辐射。 3.2.4试验箱(室)内的水蒸气不超过20g/m³(相

GB/T 4937.17-2018-半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照

1 范围 GB/T4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下： a)检测和测量半导体器件关健参数的退化与中子注量的关系； b)确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内 (见第4章)。 2试验设备 2.1 测试仪器 辐射试验中采用的测试仪器应是能测量所要求电参数的标准实验室电子测试仪器，如电源、数字电压表和皮安培计等。