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核心参数
仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型： 地质岩矿
产地类别： 国产
元素分析范围： Na (11)~U (92)
分析含量范围： 1ppm—99.99%
能量分辨率： 小于140eV
重复性： 0.05%
探测器： FSDD
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产品特点
1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作
7.专利薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
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