东谱科技多通道电致发光特性测量系统EL-Lab

产品关键词：多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、多通道、电致发光器件老化系统、光谱功率分布（ λ）、光谱功率分布（ λ）、光通量、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、电功率密度

▌ 产品简介

多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成，包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。

▌ 产品特点

□ 多通道批量测量；

□ 可放进手套箱内测试；

□ 支持长时间的多个器件的老化测试；

□ 支持宽温度范围的变温测试；

□ 全面的电致发光测量参数。

关于测试通道：可灵活定制不同数量的测试通道和功能，如：

■ 总测试通道：6 个

■ IVL 测试通道：5 个

■ 光谱测试通道：1 个

■ 老化（稳定性）测试通道：5 个

■ 变温测试通道：选配

▌ 产品功能

□ 发光效率参数：外量子效率、电流效率、功率效率等；

□ 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率密度等；

□ 辐射度学参数： 光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等 ；

□ 光度学参数：亮度、光通量等；

□ 色度学参数： CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1、显色指数等 ；

□ 器件老化参数：不同老化时间下的上述参数；

□ 变温测量等。

▌ 规格参数

▌ 产品应用

□ 量子点发光二极管（QLED）；

□ 有机发光二极管（OLED）；

□ 发光二极管（LED）；

□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）；

□ 其它各种类型的电致发光器件。