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TOF测量仪介绍
FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。
FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。
示例
NPB材料在不同电场下的TOF测试信号
NPB材料在不同电场下的迁移率和化学结构式
主要功能：
- 飞行时间法瞬态光电流测量
- 半导体中的载流子迁移率测量
- 电子/空穴迁移率的测量
- 低温测量
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企业名称
东谱科技（广州）有限责任公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
440106002223316
成立日期
2017-10-25
注册资本
500
经营范围
新材料技术开发服务;新材料技术咨询、交流服务;新材料技术转让服务;机械技术开发服务;机械技术咨询、交流服务;电力电子技术服务;软件技术推广服务;信息系统安全服务;科技中介服务;科技信息咨询服务;化工产品检测服务;电磁屏蔽器材的研究、开发、设计;教学设备的研究开发;软件开发;信息系统集成服务;信息技术咨询服务;集成电路设计;电工仪器仪表制造;实验分析仪器制造;光学仪器制造;电子测量仪器制造;通用和专用仪器仪表的元件、器件制造;半导体分立器件制造;集成电路制造;印制电路板制造;工业自动控制系统装置制造;绘图、计算及测量仪器制造;电动机销售;计算机批发;计算机零配件批发;软件批发;办公设备耗材批发;
东谱科技（广州）有限责任公司
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