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设备咨询 吴先生
反射膜厚测量仪
型号：-HS-100；波长范围：380 - 1000 nm；测量范围：10nm-100um
型号：-HS-200；波长范围：250 - 1000 nm；测量范围：2nm-100um
型号：-HS-300；波长范围：700 - 1200 nm；测量范围25nm-1mm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量反射率，膜厚，颜色，折射率
透射测量仪
型号：A3-ST-100：波长范围380 - 780 nm
型号：A3-ST-200：波长范围250 - 1000 nm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量透射率，膜厚，颜色，折射率
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Thetametrisis——膜厚测量、薄膜表征工具
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航空航天
2020/07/29
企业名称
上海嗨思电子科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
91310112MA1GC58G4B
成立日期
2018-08-23
注册资本
500
经营范围
仪器仪表、精密设备、耗材
上海嗨思电子科技有限公司
公司地址
上海市闵行区秀文路898号西门子国际中心5号楼988室
客服电话
公司名称： 上海嗨思电子科技有限公司
公司地址： 上海市闵行区秀文路898号西门子国际中心5号楼988室 联系人： 吴先生 邮编： 201199
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