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华中区销售工程师 周钟平
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热电参数测试系统采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
热电参数测试系统产品特点
热电参数测试系统测试实例
1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比
2、Namicro-3L、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比
3、Namicro-3L、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比
4、Namicro-3L、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）
热电参数测试系统技术参数
热电参数测试系统样品要求
块体：具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
动态测量法
测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差?T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。
四探针法
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点：不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
| 热电参数测试系统采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。 |
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