2024-06-03 14:42
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WD4000晶圆几何量测机
型号: 30
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品牌: 中图仪器
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晶圆表面厚度翘曲度测量系统
型号: 59
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半导体晶圆厚度Warp检测设备
型号: 75
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半导体无图晶圆几何形貌检测机
型号: 106
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中图仪器半导体晶圆制程检测设备几何量测系统WD4000
型号: 232
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在半导体制造、3C电子、光学加工等高精度行业,表面粗糙度的测量精度直接影响到产品的性能和可靠性。SuperView W系列光学3D表面轮廓仪正是为了满足这一需求而设计的。
一体型轮廓仪高精度、高稳定性和多功能性,无论是在研发、生产还是质量控制环节,都是提升测量效率和准确性的理想选择。
基于纳米传动与扫描技术、白光干涉与高精度3D重建技术、共聚焦测量等技术积累,自主知识产权的白光干涉仪(Z向分辨率可高达0.1纳米)和共聚焦显微镜,广泛应用于半导体、3C电子、高校科研等行业领域。
激光干涉仪以其高精度、多功能的特点,在精密测量领域发挥着重要作用。无论是线性、角度、直线度、平行度、垂直度、平面度还是回转轴的测量,SJ6000都能够提供可靠的数据支持,帮助制造商提升产品质量,确保精密制造的高标准。