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激光共聚焦显微镜测粗糙度,解读表面粗糙度的科技利器

2024-04-08 15:38

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资料摘要:

激光共聚焦显微镜通过激光束聚焦和散射技术实现高分辨率三维图像采集和表面测量,具有高分辨率、三维测量、非接触测量和实时成像等优势,广泛应用于材料表面粗糙度测量、形貌分析等领域,具有重要地位和广阔应用前景。
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在半导体制造、3C电子、光学加工等高精度行业,表面粗糙度的测量精度直接影响到产品的性能和可靠性。SuperView W系列光学3D表面轮廓仪正是为了满足这一需求而设计的。

一体型轮廓仪高精度、高稳定性和多功能性,无论是在研发、生产还是质量控制环节,都是提升测量效率和准确性的理想选择。

基于纳米传动与扫描技术、白光干涉与高精度3D重建技术、共聚焦测量等技术积累,自主知识产权的白光干涉仪(Z向分辨率可高达0.1纳米)和共聚焦显微镜,广泛应用于半导体、3C电子、高校科研等行业领域。

激光干涉仪以其高精度、多功能的特点,在精密测量领域发挥着重要作用。无论是线性、角度、直线度、平行度、垂直度、平面度还是回转轴的测量,SJ6000都能够提供可靠的数据支持,帮助制造商提升产品质量,确保精密制造的高标准。

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