KLA MicroXAM-800光学轮廓仪-基于白光干涉仪

产品描述

MicroXAM-800光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。MicroXAM的白光干涉仪可以埃级分辨率对表面进行高分辨率测量。 该系统支持相位和垂直扫描干涉测量，两者都是传统的相干扫描干涉技术（CSI）。MicroXAM进一步扩展了这些技术，它采用SMART Acquire为新手用户简化了程序设置，并且采用z-stitching干涉技术可以对大台阶高度进行高速测量。

MicroXAM测量技术的优势在于测量的垂直分辨率与物镜的数值孔径无关，因而能够在大视野范围内进行高分辨率测量。测量区域可以通过将多个视场拼接为同一个测量结果而进一步增加。 MicroXAM的用户界面创新而简单，适用于从研发到生产的各种工作环境。

主要功能

• 针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量

• SMART Acquire简化了采集模式并采用已知最佳的程序设置的测量范围输入

• Z-stitching干涉技术采集模式，可用于单次扫描以及编译多个纵向(z)距离很大的表面

• XY-stitching可以将大于单个视野的连续样本区域拼接成单次扫描

• 使用脚本简化复杂测量和工作流程分析的创建，实现了测量位置、调平、过滤和参数计算的灵活性

• 利用已知最佳技术，从其他探针和光学轮廓仪转移算法

主要应用

• 台阶高度：纳米级到毫米级的3D台阶高度

• 纹理：3D粗糙度和波纹度

• 形式：3D翘曲和形状

• 边缘滚降：3D边缘轮廓测量

• 缺陷复检：3D缺陷表面形貌

工业应用

• 大学、研究实验室和研究所

• 半导体和化合物半导体

• LED：发光二极管

• 电力设备

• MEMS：微电子机械系统

• 数据存储

• 医疗设备

• 精密表面

• 汽车

• 还有更多：请与我们联系以满足您的要求