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核心参数
仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型： 通用
产地类别： 国产
元素分析范围： 铝AI(No.13)～钛Ti(No.22)
分析含量范围： 0.01g/㎡~50g/㎡
探测器： AMPTEK定制版Fast-SDD探测器
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XF-S5700硅油涂布量分析仪是一款面向硅元素检测的X射线荧光光谱仪，可广泛应用于硅油涂布行业产品工艺及成本的管理。该产品既可以分析PET薄膜，还可以分析格拉辛、淋膜纸及牛皮纸等多种硅油涂布量。该产品同时支持选装多位转盘，装好样品后，可一次性检测10个样品位。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
西凡硅油涂布量分析仪XF-S5700产品特点：
元素检测范围：铝(No.13)～钛(No.22)
分析范围：0.01g/㎡~50g/㎡
检测精度：±0.01g/㎡
检测样品： PET离型膜/各类离型纸
整张A4纸大小样品直接测试，不用裁剪取样
1张薄膜或纸张多点连续测试，测试效率高
定制TCP/IP协议API接口，支持对模块的控制、状态监控及数据采集
支持选装配件：自动转盘检测（10位）
西凡硅油涂布量分析仪XF-S5700测试案例：
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企业名称
西凡仪器（深圳）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
914403005503041729
成立日期
2010-01-27
注册资本
1000
经营范围
西凡仪器（深圳）有限公司
公司地址
深圳市宝安区新桥街道黄埔社区上南东路128号2号厂房十层
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