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XF-P3镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器、PCB等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器，内置四核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，可支持10层检测，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
西凡镀层测厚仪XF-P3产品特点
元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)
可支持十层检测
可同时支持镀层厚度和成分检测
检出限：2nm(厚度)，2ppm(成分)
检测精度：相对误差±1.5%(1um厚度）
±0.01%(99.9%)
定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集
遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。
三准直器,多滤光片自动切换
XY平面微动平台，行程：30mm×30mm
铅玻璃窗口，方便观察样品
西凡镀层测厚仪XF-P3测试案例
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涂镀层厚度及其成分检测解决方案
XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪，该产品采用进口定制Fast-SDD探测器，内置工控电脑，运行Smart FP算法，无需标样，可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器，电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
其他
2022/08/15
企业名称
西凡仪器（深圳）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
914403005503041729
成立日期
2010-01-27
注册资本
1000
经营范围
西凡仪器（深圳）有限公司
公司地址
深圳市宝安区新桥街道黄埔社区上南东路128号2号厂房十层
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