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当前位置: DECTRIS > X射线探测装置 > PILATUS3  R CdTe-DECTRIS混合光子计数X射线探测器

PILATUS3  R CdTe-DECTRIS混合光子计数X射线探测器

品牌: 德科特思
产地: 瑞士
型号: PILATUS3  R CdTe
样本: 下载
报价: 面议
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产品介绍

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HPC 和硬 X 射线的直接检测以获得超高质量的数据

PILATUS3 R CdTe 系列探测器结合了混合光子计数 (HPC) 的优势和在大型碲化镉 (CdTe) 传感器中直接探测硬 X 射线的优势。 CdTe 为 Mo、Ag 和 In 辐射提供接近百分百的吸收效率。 结合无噪声单光子计数,这将实验室中的 X 射线检测的灵敏度和准确度提升到一个新的水平。电荷密度研究和对分布函数分析等具有挑战性的实验室应用依赖于硬辐射和具有出色信噪比的数据。 PILATUS3 R CdTe 探测器在这些应用中表现出色,因为没有暗电流和读出噪声,动态范围远远优于典型的电荷积分探测器。



核心优势

- Mo,Ag和In量子效率> 90%

- 没有图像滞后和没有余辉

- 直接检测和小像素尺寸以获得超佳光斑分离和超小背景重叠

- 高动态范围得益于零探测器背景噪声、出色的计数率和同步读/写

- 噪声和荧光抑制


应用领域chatu.png

大分子晶体学(MX)

化学结晶学

SAXS/WAXS  

μCT

劳厄衍射

- 高分辨率化学结晶学

对分布函数(PDF)分析

关键尺寸SAXS

- 计算机断层扫描(CT)








技术规格

PILATUS3   R CdTe

1M

300K

300K-W

100K

探测器模块数量

2 × 5

1 × 3

3 × 1

1 × 1

有效面积:宽×高   [mm2]

168.7 x 179.4

83.8 × 106.5

253.7 x 33.5

83.8 x 33.5

像素大小 [μm2]

172 x 172

总像素数量

981 x 1043 

487 × 619

1475 × 195

487 x 195

间隙宽度, 水平/垂直(像素)

*每个模块之间水平间隙增加1个像素

7* / 17

- */ 17

7* / -

-* / -

非灵敏区 [ % ]

7.8

5.7

1.1

0.2

缺陷像素

< 0.1%

z大帧频 [Hz]

5

20

20

20

读出时间 [ms]

7

点扩散函数

1 pixel(FWHM)

计数器深度

20 bits(1,048,576 counts)

功耗 [W]

165

30

30

30

尺寸(WHD)[mm3]

265 x 286 x 455

158 x 193 x 262

280 x 62 x 296

114 x 69 x 118 (探头)

重量 [kg]

25

7.5

7.0

0.9(探头)

模块冷却

水冷

水冷

水冷

水冷

外接触发电压

5V TTL

5V TTL

\

\


**所有规格如有更改,恕不另行通知。


相关链接

分销商:北京优纳珂科技有限公司 仪器信息网  (负责市场: 同步辐射光源与实验室)

分销商: 北京泰坤工业设备有限公司 仪器信息网 (负责市场: 原始设备制造商OEM)


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售后服务
保修期: 1年
是否可延长保修期:
现场技术咨询:
免费培训:
免费仪器保养: 视情况而定
保内维修承诺: 免费维修更换零件
报修承诺: 24小时之内响应
工商信息

企业名称

DECTRIS AG

企业信息已认证

企业类型

信用代码

成立日期

2006-10-10

注册资本

1225496

经营范围

开发和制造用于科学和工业应用的电子测量设备。此类产品的贸易以及知识产权的收购和营销。也可以为第三方提供适当的开发和咨询服务。设立分支机构,设立其他具有类似或相似有关的公司,或直接或间接参与,收购,持有,管理和出售财产。

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DECTRIS 德科特思为您提供德科特思PILATUS3  R CdTe-DECTRIS混合光子计数X射线探测器PILATUS3  R CdTe,德科特思PILATUS3  R CdTe产地为瑞士,属于X射线探测装置,除了PILATUS3  R CdTe-DECTRIS混合光子计数X射线探测器的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供PILATUS3 R-DECTRIS混合光子计数X射线探测器、PILATUS 3 X CdTe-DECTRIS混合光子计数X射线探测器、PILATUS 3 S -DECTRIS混合光子计数X射线探测器,DECTRIS客服电话,售前、售后均可联系。
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公司名称: DECTRIS AG

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