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EIGER 2 R: 您实验室的新一代混合光子探测技术
EIGER 2 R 集合了所有混合光子计数探测器的先进技术。小尺寸像素与直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以在倒易空间内进行精细的样品测量。优越的计数率性能确保精确测量高强度X射线。利用该探测器系列的巨大动态范围，在零死时间同步读/写的状态下可进行长时间曝光。双能量识别有助于微弱信号和长时间曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具备可选择的真空兼容性，空气和窗口所产生的吸收和散射得以减弱。我们提供三种不同的型号满足您的需求。EIGER 2 R集合了所有混合光子计数探测器的先进技术。小尺寸像素与直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以在倒易空间内进行精细的样品测量。优越的计数率性能确保精确测量高强度X射线。利用该探测器系列的巨大动态范围，在零死时间同步读/写的状态下可进行长时间曝光。双能量识别有助于微弱信号和长时间曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具备可选择的真空兼容性，空气和窗口所产生的吸收和散射得以减弱。我们提供三种不同的型号满足您的需求。
核心优势
– 由于零背景噪音，出色的计数率和同时读写，
所以具有很高的动态范围
– 直接检测和小像素尺寸以获得光斑分离
和最小背景重叠
– 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景
– 免维护，易于集成，可选真空兼容性
应用领域
– 大分子晶体学(MX)
– 化学晶体学
– 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/
WAXS）
– 粉末衍射（PXRD）
– X射线反射（XRR）
技术规格
EIGER2 R | 500K | 1M | 4M |
探测器模块数量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.2 x 38.6 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||
点扩散函数 | 1 pixel | ||
能量阈值 | 2 | ||
阈值范围（KeV） | 3.5-30 | ||
计数率（cps/mm2） | 6.9×108 | ||
计数器深度（bit/threshold） | 2×16 | ||
帧速率 [Hz] | 50 | 100 | 20 |
采集模式 | 同时读/写，死区时间为零 | ||
图像位深度（bit） | 32 | ||
可选真空兼容 | Yes | ||
冷却方式 | 风冷 | 水冷 | 水冷 |
尺寸（WHD）[mm3] | 100 x 140 x 93 | 114 x 133 x 240 | 235 x 235 x 372 |
重量 [kg] | 1.8 | 4.7 | 15 |
**所有规格如有更改，恕不另行通知。
相关链接
分销商:北京优纳珂科技有限公司 仪器信息网 (负责市场 同步辐射光源/实验室）
分销商: 北京泰坤工业设备有限公司 仪器信息网 （OEM 原始设备制造商）
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企业名称
DECTRIS AG
企业信息已认证
企业类型
信用代码
成立日期
2006-10-10
注册资本
1225496
经营范围
开发和制造用于科学和工业应用的电子测量设备。此类产品的贸易以及知识产权的收购和营销。也可以为第三方提供适当的开发和咨询服务。设立分支机构，设立其他具有类似或相似有关的公司，或直接或间接参与，收购，持有，管理和出售财产。
DECTRIS AG
公司地址
Taefernweg 1, 5405 Baden-Daettwil Switzerland
客服电话
公司名称： DECTRIS AG
公司地址： Taefernweg 1, 5405 Baden-Daettwil Switzerland 联系人： 销售部 邮编： 540000
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