2023年4月7日分别在杭州、天津和长沙举行三场学术会议。昊然伟业作为三场会议赞助商诚挚邀请各位莅临。以下是三个学术会议的详细信息：第三届人工晶体材料青年学术会议会议网址：//www.htcis.net/MeetingMain/Index/YCCG2022会议召开日期：2023年4月7—9日会议地点：杭州·杭州富阳瑞莱克斯大酒店会议专题1、晶体生长原理与数值模拟2、激光与非线性光学晶体3、辐射探测晶体4、半导体晶体与器件5、电/声/磁及其他功能晶体6、人工微结构与特殊环境晶体生长7、透明陶瓷材料第二十五届全国激光学术会议会议网址：http://learningconf.cn/MeetingMain/Index/Laser2022会议召开日期：2023年4月7—10日会议地点：天津·天津富力万达文华酒店会议专题1、超强超短激光技术2、微纳激光技术3 、先进激光材料及器件4、激光光场调控及应用5、非线性光学与量子光学6、激光探测、通信及信息处理技术7、激光加工与制造技术8、激光生物与激光医学9、激光光谱技术及应用10、激光成像技术及应用11、激光与物质相互作用12、其它激光交叉领域第二届中国激光技术及产业发展大会会议网址：https://b2b.csoe.org.cn/meeting/laser2022.html会议召开日期：2023年4月7—9日会议地点：长沙 · 湖南佳兴世尊酒店会议专题1、半导体激光材料、器件及激光器2、光纤激光材料、器件及激光器3、人工晶体材料及全固态激光器4、超快激光技术5、激光通信技术及应用6、激光雷达技术及应用7、激光清洗技术及应用8、激光焊接技术及应用9、激光表面改性与增材制造10、激光微纳制造技术及应用11、激光显示技术及应用12、激光医疗

Gentec-EO小巧便携且方便使用的激光功率计和能量计PRONTO 系列所提供产品十分小巧，可随身携带。对于经常四处奔波或常使用激光等设备的修理维修人员，此为一种切实可行的解决方案。这些产品坚硬牢固，可随处处理并移动，无需担心发生损坏。这种操作简单的解决方案不需要任何知识，只需将激光束对准光圈，并在设备屏幕上直接读取功率或能量测量。得益于我们的免费专属软件，您甚至可利用数据记录功能，在您的计算机上分析数据。Gentec-EO方便的无线设备，可在移动电话或计算机上测量激光功率如果我们的 PRONTO 产品系列无法满足您更多具体的功率测量需求，或是您期望解放双手，仍需要一款轻巧便携解决方案，您会喜欢 BLU 系列。BLU 是我们传统激光功率探测器的无线蓝牙版本。探测器与移动电话或计算机间通过 Bluetooth® 连接，使您摆脱所有电线。简单安装我们的免费专属移动 App 或软件，准备就绪。无需购买独立的显示设备。Gentec-EO用于激光功率和能量测量的经济、便携和免提解决方案INTEGRA 系列简介：根据传统激光功率和能量探测器改造，配备集成 USB/RS-232 连接器。与上述提及的 BLU 系列优点相似，但不需要电池且价格更优惠。简单安装我们的免费专属软件，将探测器直接插入计算机，便可进行测量。无需购买独立的显示设备。

如果您正在寻找高性能和紧凑型中红外光谱仪，既可以在自由空间工作，也可以使用红外光纤，ARCoptix FT-IR Rocket就是您需要的小型傅里叶红外光谱仪。由于其对准的干涉仪和固态参考激光器，小型傅里叶红外光谱仪FT-M Rocket在强度和波长尺度上都具有很高的稳定性。根据高灵敏度或宽光谱范围的优先级，可提供三种光谱范围。特点▪ 三个光谱范围可供选择：2-6, 1.5-8.5 或 2-12µm▪ 高灵敏度 (2级 & 4级冷却 MCT 探测器)▪ 高分辨率为4cm-1▪ 在强度和波长方面有高稳定性▪ 可拆卸光纤耦合器，用于使用光纤或自由空间红外光束应用▪ 用于MIR激光和led的中红外光谱分析仪(OSA)▪ 液体、薄膜或气体的测量▪ 地质、食品、饮料等领域的物料鉴定与定量

美国Hinds Instruments的Exicor®双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供先进技术，具生产价值的测量双折射的能力。Hinds Instruments 的Exicor双折射测量系统型号150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有足够的多功能性，在生产车间和研发实验室环境中均可胜任。 该模型广泛用于研究和工业中测量组件; 如光掩膜和光刻胶、DVD空白、塑料薄膜、透镜毛坯、激光晶体、手机显示窗、注塑件等等。 台式设计和直观的自动扫描软件使该产品成为高价值精密光学元件和商品光学元件（高达150mm X 150mm）的日常评估的选择。灵敏度和重复性使用Hinds仪器光弹性调制器(PEM)技术，该系统提供高水平双折射灵敏度。此外，PEM提供高速操作，以50千赫的速率进行调制。灵敏度和重复性很容易提供亚纳米级的双折射测量，对许多应用至关重要。专为简单、直接的操作而设计一个大至6“x 6”（可选大尺寸）的光学样品可以通过手动或自动映射和图形显示进行表征。 一旦将样本放置在翻译阶段，直观的软件就可以指导操作员完成步骤测量过程。 用户界面软件计算延迟值和快轴角度，并以各种格式显示它们。 该软件还提供文件管理和校准功能。应用质量控制计量低水平双折射测量的有平滑玻璃科学光学元件 激光晶体DVDs光刻组件的质量验证，包括光掩模 熔石英光学元件 氟化钙镜片毛坯和窗口主要特点在低水平双折射测量中具有同时测量双折射幅度和角度精确度可重复性高速测量光学系统中无移动部件可变尺寸光学元件的自动映光弹调制器技术简单、便于用户使用的操作Exicor 150AT测量通过正在研究的光学样品的光路上的延迟。它旨在测量和显示样品光学延迟的幅度和快轴取向。设计消除了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换的必要性。氦氖激光束被偏振然后由PEM调制。调制后的光束透过样品并由分光镜分开。每束光束通过分析仪、光学滤光片和光电探测器的组合。电子信号通过一个锁定放大器处理，提供非常低的信号检测。由Hinds 仪器公司开发的软件算法将来自电子模块的信号电平转换为可以确定线性双折射的参数。计算机从两个输入中选择，允许从两个信号通道进行连续测量。分析数据，然后显示延迟大小和轴角度并存储在文件中。当在自动映射模式下操作时，x-y平移阶段将把样本移动到下一个预定的测量位置。结果以用户指定的格式即时显示。

ALBATROSS是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。ALBATROSS- TT的原理与ALBATROSS相同，但它主要针对小型样本进行测量。仪器本身可置于桌面，更加适用于工业界测量。可测量参数：角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF，双向透射分布BTDF，散射损耗，反射，透射等，且具有3D扫描功能。测试光源：405nm，532nm，640nm等激光光源测试样品：光学或非光学基底和表面可测样品规格最大重量： 1 kg最大尺寸： ø200 mm x 100 mm指标参数：角度分辨率：角精度：对粗糙度的灵敏度 测量重复精度：优于5%BRDF/BTDF 测试动态范围：≥1013 @532nmBRDF/BTDF 最小测量值：1×10-8sr-1。设备应用：1 主要用于光学系统光机件表面的散射测量，包括双向反射分布函数（BRDF），双向透射分布函数(BTDF)和半球空间积分散射（ARS）。2 对光学器件表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析，包括：产品质量分析光学性能分析粗糙度分析等

Hinds 仪器的Exicor双折射测量系统型号150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。该系统具有足够的多功能性，在生产车间和研发实验室环境中均可胜任。该模型广泛用于研究和工业中测量组件; 如光掩膜和光刻胶、DVD空白、塑料薄膜、透镜毛坯、激光晶体、手机显示窗、注塑件等等。台式设计和直观的自动扫描软件使该产品成为高价值精密光学元件和商品光学元件（高达150mm X 150mm）的日常评估的最佳选择。应用质量控制计量低水平双折射测量的有平滑玻璃科学光学元件 激光晶体DVDs光刻组件的质量验证，包括光掩模 熔石英光学元件 氟化钙镜片毛坯和窗口主要特点在低水平双折射测量中具有前所未有的灵敏度同时测量双折射幅度和角度精确度可重复性高速测量光学系统中无移动部件 可变尺寸光学元件的自动映 光弹调制器技术 简单、便于用户使用的操作

2022年加拿大Gentec-EO 发布了全新款顶级激光功率能量显示设备 MIRO ALTITUDE。主要特点：所有探头都可读取     功率: 热电堆、光电探头和热电材料     能量: 热电堆 (单发模式)、光电探头和热电材料 超大触摸屏显示      10英寸对角线      1280 x 800 分辨率       触摸屏控制 直观的用户界面      易于浏览界面。具有3 种显示模式:范围图、针形图和条形图。即时访问设置功能。 实时统计功能      最大值、最小值、平均值、标准偏差、RMS 和 PTP 稳定性以及重复率。多种输出     多个USB 接口可用于连接电脑和充电  (1x USB-C, 2x USB-A)、BNC 模拟输出、      RS-232、   以太网、 可编程的输入/输出 (即将推出)范围显示使用此显示模式，您可以在使用 MIRO ALTITUDE 继续测量的同时，同时使用底部的时间线在时间上移动，以查看任何时间点的测量值。蓝色虚线表示平均值。指针显示得益于XNR 预期TM!，这种模式比模拟针更快！在调谐激光器时特别有用。实时值和统计信息始终显示在屏幕上方。条形显示这是最简单的显示模式。它的主要优点是，当前的测量值以巨大的尺寸显示，允许您从远距离读取测量值。箭头表示最小和最大测量值内置文件管理器和数据查看器MIRO 的内置文件管理器让您可以访问和整理所有屏幕截图和录制的测量会话。您还可以复制USB 上的文件。         使用我们的内置数据查看器，把记录的测量会话进行可视化。数据将显示在范围图显示屏中。还有一个内置的图像查看器，这样您可以直接在您的MIRO ALTITUDE上查看控制中心从所有屏幕的左上角都可以访问控制中心。在应用程序的主屏幕之间轻松导航：将您的Gentec-EO 探头与MIRO ALTITUDE连接/断开设备设置

MIRO ALTITUDEMIRO ALTITUDE 是Gentec-EO的新旗舰产品，为您读取您的激光功率和能量测量。从我们目前的产品线出发，我们将其视为激光光束测量行业的一场改革，得益于硬件和软件方面的许多新功能，它可以帮助工程师和技术人员提高生产效率。进入现代激光束测量时代：•10 英寸高分辨率防眩光触摸屏•极其坚固和耐用的铝制外壳•比以往任何时候都有更多的连接可能性：以太网、RS232、GPIO、外触发器、同步输出、模拟输出、USB-C 和 2 USB•3种显示方式：范围图、针形图和条形图•内置文件管理器，以保存和组织您记录的测量会话•使用 XNR AnticipationTM可以将测量速度提高 10 倍用于功率和能量测量的专业显示装置光衰减器我们的新型BA光学衰减器，可以承受高达1000W的激光功率，有许多不同的用途：•监测功率和光束分析同时进行•无背反射的偏振不敏感分束器•与我们的能量或功率探测器一起使用的光学传感器•为我们的高灵敏度探测器提供的衰减器，如M6, PH等积分球功率计使用我们的新型积分球功率计，实现两全其美。该技术提供了光电探测器的快速上升时间和热探测器的高平均功率。• 快速上升时间：0-95%，在不到0.2秒内• 测量高达1000 W的连续功率• 有两种尺寸：12毫米或50毫米孔径• 具有USB或RS-232输出的集成信号处理快速、可靠的功率测量大功率探头HP60A-15KW-GD-TUBE通过其金反射锥和管延伸，可捕获高达99%的入射辐射，并可处理高达15kW的连续激光功率。探头的低背反射确保了一个更安全的工作环境。这种探头还可以处理非常小的高强度光束。高功率、低背反射获奖产品激光聚焦世界创新者奖计划是为了表彰在光学和光子学产品和系统中最具创新性的解决方案。Gentec-EO感到自豪的是，我们的两个产品系列最近被来自光学和光子学业界备受尊敬和经验丰富的评委小组认可为最佳创新解决方案。UP-QED系列作为金奖获奖的用于极高密度激光器的UP-QED激光功率探头，被公认为2021年激光聚焦世界创新者奖中最具创新性的光子学技术之一。UP-QED系列是用于具有极高功率和能量密度的激光器的功率探测器，如激光微加工系统。由于有一种专有的吸收体，它能使被测光束扩散并以更大的体积吸收，这些探测器具有市场上最高的损伤阈值。• 有两种尺寸：16毫米或52毫米孔径• 我们最高的最大平均功率密度• 我们最高的最大能量密度市场上最高的损伤阈值HP-BLU系列BLU无线输出不再存在机箱或难以触及区域的高功率测量问题。使用集成的蓝牙Bluetooth®模块，您可以在距离电脑30米的地方获取激光测量数据。BLU系列使实验室和生产车间更加安全，因为在进行测量时，操作员可以离探测器更远，而且工作空间中的电缆更少，事故发生的可能性也更小。它们也是现场服务技术人员的基本工具，这些技术人员将利用集成电子设备，从而携带更少的仪器。全功率级别的无线测量

2022 年 1 月，加拿大魁北克市——Gentec-EO 发布了全新款顶级激光功率能量显示设备 MIRO ALTITUDE。现在，世界各地的用户都可以购买这款备受期待的 MIRO ALTITUDE。此款新型激光束测量仪旨在通过其硬件和软件的众多新功能提高工程师和服务技术人员的生产效率。“我们很高兴今天终于发布了这款 MIRO ALTITUDE。一直以来，我们都在倾听客户的心声，力求准确把握激光行业的最新需求，因此，我们坚信 MIRO ALTITUDE 一定不会让客户失望。凭借其超强耐用的设备和对现代技术的出色运用，MIRO 将为客户带来更多前所未有的激光束测量功能。MIRO ALTITUDE 拥有直观的用户界面，超大屏幕，兼容多种接口，提供 3 种方便操作的显示模式，并内置数据查看器和文件管理器，将能够助力 Gentec-EO 的客户提高生产力。此款新型显示设备作为 Gentec-EO 的旗舰设备，公司会对其进行持续改进，并为所有客户提供免费软件更新，使客户在受益于 Gentec-EO 设备高精度性能的同时，更能优化他们的生产效率。根据计划，明年将会更新一些新功能。MIRO ALTITUDE 带您进入激光束测量的新时代Gentec-EO 将通过 MIRO ALTITUDE 持续更新其产品系列的功能和特性。专业化屏幕10 英寸高分辨率防眩光触摸屏，为您提供符合期望的专业工作工具。方便搜索的用户界面MIRO ALTITUDE 具有直观现代的用户界面，使用非常简单，即插即用。MIRO ALTITUDE 配备超大尺寸屏幕，让您一眼就可以看到测量相关信息。超强耐用极其坚固耐用的金属外壳，您无需担心其在现场或运输过程中破损。兼容多种接口支持以下接口连接：以太网、RS232、GPIO、外触发器、同步输出、模拟输出、USB-C 和 2 USB.您可以根据需要进行设置，以实现最佳性能。使用方法放在桌面上放在台架上手持适合各种用例的显示模式MIRO ALTITUDE 有 3 种显示模式：一种可以让你在不中断当前测量会话的情况下检查过去的数据点；另一种为超大数字显示模式，即使您在房间的另一边，也能轻松看到测量值。配备 XNR ANTICIPATIONTM使用 XNR expectationtmTM 可以将测量速度提高 10 倍（依靠探测器），这可能是业内迄今为止测量仪器的最快测量能力。内置数据查看器可直接在 MIRO ALTITUDE 上查看记录的测量会话。内置文件管理器用于保存和管理记录的测量会话和屏幕截图，或将文件移动到 USB 设备。可读取所有磁头MIRO ALTITUDE 兼容所有 Gentec-EO 探测器，包括功率和能量。

在同一台仪器中采用四个光弹性调制器（PEM），150XT Mueller偏振计可以在几分之一秒内同时测量所有十六个穆勒r矩阵元素和样品的完整偏振特性。Hinds 仪器公司产品系列的这一新增功能可应用于学术和工业研究、光学元件特性、制造和质量控制。承包系统在各种光学、化学和生物化学样品中绘制出线性延迟、圆形延迟（或旋光）、线性二次衰减和圆形二次衰减。前沿灵敏度和重复性       使用Hinds仪器公司专利的PEM技术，该系统为一个完整的穆勒偏振计提供了当今最高水平的灵敏度。此外，PEM提供高速操作，以几十千赫的速率调制。前沿灵敏度和重复性可轻松提供亚纳米水平的线性和圆形双折射测量结果，以及线性和圆形二次衰减的亚百分比测定，这对于许多应用至关重要。精心设计，操作简单，直观      一个大至6“x 6”（150mm x 150mm;更大尺寸可选）的样品可以手动或自动绘制并以图形方式显示。一旦将样本放置在翻译阶段，直观的软件就可以指导操作员完成步骤测量过程。用户界面软件可计算线性延迟值、圆形延迟值、线性衰减值和圆形衰减值，并以各种格式显示它们。该软件还提供文件管理和校准功能。在可选模式中，样本可以相对测量光束倾斜，而不是在XY 平台移动，使用自动精密旋转器或旋转器生成所有十六个Mueller矩阵元素的角映射和样本的所有偏振属性。        Mueller偏振计测量了通过正在研究的光学样品的光学路径集成的偏振特性。一束氦氖激光光束被偏振化，然后由前两个脉冲编码调制。调制光束通过样品传输，然后通过另外两个PEM的组合，一个分析器和一个光电探测器。电子信号是通过傅立叶分析捕获的波形(锁定选项可用于更低级别的信号检测)来处理的。一种由纽约大学和Hinds仪器合作开发的软件算法，将电子模块中的信号电平转换成16个Mueller矩阵元素和样品的完全极化特性，当在自动映射模式下工作时，x-y平移阶段将样本移动到下一个预定的测量位置。结果以用户指定的格式即时显示。主要特点 在全Mueller偏振计中具有前所未有的灵敏度 同时测量所有十六个Mueller矩阵元素 同时测量完整的偏振特性 精确重复性 高速测量 光学系统中无移动部件 可变尺寸光学元件的自动映射 光弹调制器技术 简单、便于用户使用的操作应用 学术和工业研究 质量控制计量 精确测量完整的偏振特性 具有复杂内部结构的光学元件 激光晶体 具有复杂图层的液晶显示器 非晶态晶体 各向异性晶体 化学和生物各向异性光学材料 由电场或磁场引起的各向异性

horos—光学粗糙度传感器使用horos 和WLI 测量粗糙度（样本：1.-Mo/Si-镜子，2-Ti-膜，3-钻石旋转法下Al-表面）测量600mm Ritchey-Chrétien望远镜镜片的粗糙度钻石旋转法下AI-表面的散射分布用于完整的表面表征基于机器人的传感器设置仪器介绍散射和粗糙度传感器horos（高灵敏光学粗糙度传感器）是一种用于三维角分辨散射测量（ARS、BRDF）的小型仪器，具有高灵敏度和易于操作的特点。 可以测量表面的rms粗糙度、功率光谱密度函数和各向同性。这些测量结果可以直接关联替代技术，如白光干涉测量（WLI）。 可用于测量±7°角度圆柱体的3D球面散射分布，积分后可得总散射损失指标（TS）。系统参数测量波长：例如650nm灵敏度：ARS工作距离：＞10mm测量时间：＜1S校准定量测量紧凑尺寸：200x170x65mm3可选配：与机械臂结合应用将传感器直接集成到光学制造过程中进行质量控制，直接控制探测器矩阵（看曝光时间）和激光功率（手动和自动操作）散射分布的实时视图用于检测ARS和BRDF的自动化例程图形化显示测量结果对于抛光的不透明表面：根据散射数据计算均方根粗糙度（0.5nm至20nm)和粗糙度功率谱密度函数（空间带宽在0.02μm-1至0.2μm之间）数据导出（ASCII和JPG)

       Gentec Electro-Optics 是一家专业从事激光束和太赫兹源测量和分析的公司。Gentec-EO 凭借其在激光市场 45 年创新、发展和提供顶尖技术的非凡记录，成为了激光束测量领域的权威专家。       从工厂到医院、实验室和研究中心的各种激光应用，Gentec-EO 提供了最为广泛的现货供应和定制化解决方案，不论是现在还是将来随时为您提供服务。功率计&能量计我们拥有行业内最齐全的激光测量产品。我们的能量探测器覆盖从几个 fJ 到几个kJ ，我们的功率探测器范围很广，从几个pW 到几十kW。光束分析仪如果您需要了解更多关于光束直径、强度轮廓和散度，我们有全方位的光束分析仪，包括相机和光束质量测量系统。热量计Gentec-EO 热量计是最大和最高能量激光光束的的唯一可靠的解决方案。通过与领先的研究结构的合作， Gentec-EO 已成为高能热量计的专家。太赫兹测量我们可针对太赫兹光谱提供广泛的功率和能量探测器。我们的产品线具有简单的即插即用的解决方案和完整的应用软件。定制产品 & OEM无论您的项目大或小，从标准产品的简单调整到新的解决方案，我们将与您一起设计和制作最适合您需求的解决方案。可追溯性校准Gentec-EO 只使用黄金校准标准 ，确保最佳精度。针对具体需求，我们的内部校准也可灵活满足。OEM 探测器4个等级集成

Gentec Electro Optics提供全系列产品以满足您的脉冲能量测量需求。它们从精益和便携式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系列到我们的大型世界级定制热量计。Gentec-EO在45年前推出第 一款热释电焦耳计之后，它被公认为是一个经验丰富的能量测量专家。无论是在实验室还是OEM应用，Gentec EO都会有解决方案。工作原理热释电探测器什么是热释电? “某些晶体受热或冷却后，由于温度的变化（△T）而导致自发式极化强度变化（△Ps），从而在晶体某一定方向产生表面极化电荷的现象称为热释电效应。”。原则:激光脉冲使晶体产生热梯度晶体表面出现极化电荷电极分化产生电压。产品特点能量计产品分类超快焦耳计

展位：W4馆4300时间：2021.3.17-19地点：上海新国际博览中心

美国Minus K隔震台产品介绍MinusK®Technology，Inc.成立于1993年，基于我们获得专利的被动刚性阻尼技术开发，制造和销售我们最先进的隔振产品。MinusK®位于美国洛杉矶。MinusK®产品是通过将建筑物和地板的振动降低到前所未有的水平，这些系统使振动敏感的仪器和设备能够以前所未有的水平运行。它们被广泛应用，包括纳米技术，生物科学，半导体，材料研究，航天器的零重力仿真以及高端音频。MinusK®是扫描探针显微镜，显微硬度测试仪和其他对振动敏感的仪器和设备的领先制造商的OEM供应商。MinusK®的客户包括私营公司以及52个国家/地区的300多家领先的大学和政府实验室。新型 CT-2超薄低高度台式隔震台紧凑型台式计算机（CT-2）使用Minus K的专利突破性技术，仅2.5英寸高的隔离平台即可在市场上获得最佳性能。该单元是CT-1的后继产品，具有更好的水平性能，并为更重的仪器提供了更多有效载荷范围。CT-2提供了我们标志性的0.5 Hz垂直固有频率和〜1.5 Hz水平固有频率。这是有史以来最薄，最轻便，最方便使用的隔离器，能够提供稳定性能并且不需要空气或电力。LC-4超紧凑型隔振器Minus K的新型LC-4是超紧凑的低频被动刚性阻尼隔离器。它有两种配置，即水平1.5 Hz的低水平性能或水平0.5 Hz的超低频。两种配置均可提供我们标志性的0.5 Hz垂直固有频率。LC-4隔离器可以组合成多个隔离器系统，以支持更重的负载，同时又仅占用很小的空间。隔离器是被动的，可手动调节，不需要空气或电力。新型CM-1紧凑型大容量隔振装置新型CM-1是紧凑型大容量，低频被动刚性阻尼隔离器。与所有Minus K隔离器一样，它们完全是被动的，不消耗空气或电力。隔离器可以组合成多个隔离器系统，以支撑重载，同时自身占用的空间很小。CM-1隔离器可放置在底座上，以使其达到适当的高度，以改装现有的空气桌，使您能够保持现有的桌面并获得更好的隔离度。SM-1大容量隔振器该隔离器具有与台式隔离器相同的基本功能：完全无源，被动刚性阻尼，手动可调，垂直和水平1/2 Hz频率。它为数千磅或千克的有效载荷提供了低频隔离性能。该隔离器是FP-1地板平台和其他多个隔离器系统的基本构建部分。WS-4隔振工作台新型WS-4是我们最小的独立式桌子，可提供标志性的1/2 Hz频率。它由坚固的支架和标准的BM-1隔振平台组成。MK52光学隔振台利用我们的BM-1系列隔离器可实现1/2 Hz的频率。各种配件可用于集成解决方案。与Kinetic Systems合作开发。MK26隔振工作台利用我们的BM-1系列隔离器可实现1/2 Hz的频率。各种配件可用于集成解决方案。与Kinetic Systems合作开发。BM-10台式隔震台新型BM-10台式平台采用如此小的封装提供的最高性能的隔离器。4.6英寸x 12英寸x 12英寸。BM-8台式隔震台新型BM-8台式平台在仅4.6英寸高且无空气的包装中，其性能比空气工作台高10-100倍！BM-6台式隔震台新型BM-6台式平台的性能优于全尺寸的工期工作台，其高度仅4.6英寸且无空气！BM-4台式隔震台最具有成本效益的的台式平台，能够在垂直和水平方向上提供1/2 Hz的频率。BM-1台式隔震台我们最大的隔震台。具有成本效益的产品，可承受高达1000磅的重量，并在垂直和水平方向具有1/2 Hz的频率。

美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系统、Microlmager应力测量显微镜、穆勒矩阵测量仪、偏振测量仪、各向异性测量仪、消光比测量仪、PEM光弹调制器、锁相放大器等。美国Hinds的双折射测量技术已经被世界范围内的行业领导者采用，以无与伦比的精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。能够在0.001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0.005nm, 这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求。我们提供跨光谱（DUV, VIS和NIR）的测量系统, 并能够测量几乎所有的光学材料。Hinds 仪器的Exicor双折射测量系统型号150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。该系统具有足够的多功能性，在生产车间和研发实验室环境中均可胜任。该模型广泛用于研究和工业中测量组件; 如光掩膜和光刻胶、DVD空白、塑料薄膜、透镜毛坯、激光晶体、手机显示窗、注塑件等等。台式设计和直观的自动扫描软件使该产品成为高价值精密光学元件和商品光学元件（高达150mm X 150mm）的日常评估的最佳选择。前沿灵敏度和重复性使用Hinds仪器专利光弹性调制器(PEM)技术，该系统提供最高水平双折射灵敏度。此外，PEM提供高速操作，以50千赫的速率进行调制。前沿灵敏度和重复性很容易提供亚纳米级的双折射测量，对许多应用至关重要。专为简单、直接的操作而设计一个大至6“x 6”（可选大尺寸）的光学样品可以通过手动或自动映射和图形显示进行表征。一旦将样本放置在翻译阶段，直观的软件就可以指导操作员完成步骤测量过程。用户界面软件计算延迟值和快轴角度，并以各种格式显示它们。该软件还提供文件管理和校准功能。应用质量控制计量低水平双折射测量的有平滑玻璃科学光学元件 激光晶体DVDs光刻组件的质量验证，包括光掩模 熔石英光学元件 氟化钙镜片毛坯和窗口主要特点在低水平双折射测量中具有同时测量双折射幅度和角度精确度可重复性高速测量光学系统中无移动部件 可变尺寸光学元件的自动映 光弹调制器技术 简单、便于用户使用的操作

MAESTRO系列触屏、单通道、功率计表头和能量计表头Gentec-EO 位于加拿大魁北克市美丽的魁北克光学中心，在激光测量领域有着悠久的历史。凭借 近50年的创新记录以及从工厂到医院和实验室提供激光功率和能量测量应用的高质量解决方案，Gentec-EO 随时准备为您提供现在和将来的服务。Gentec-EO激光功率计和激光能量计表头的大小和类型多种多样，适用于所有应用。我们有带显示屏或不带显示屏（需连接电脑）都有功率或能量读数，或两者都有。我们还提供超快的数字指针显示屏。MAESTRO 系列功率计／能量计是带显示的表头 ，产品装有超大 5.6英寸彩色LCD显示屏，全触屏控制。凭借其独特的用户界面和更快的电子设备， 它将在更短的时间内完成更多的工作。