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武汉颐光科技有限公司
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解决方案
薄膜光伏测量应用解决方案
应用领域
电子/电气检测样品
照明产品检测项目
膜厚及折射率测量通过ME/SE系列椭偏仪可以快速准确表征光伏薄膜的厚度、光学常数等；确保材料以及产品的品质。此外采用集成ME-L/SE-L在线监测装备系统PMS可快速准确完成产品的测量任务之外，可完美整合到生产工艺流程中，大幅度提高企业生产效率，带来更大企业价值。
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平板显示测量应用解决方案
应用领域
电子/电气检测样品
照明产品检测项目
膜厚及折射率测量通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数，确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制，可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中，大幅度降低企业生产成本并提高生产效率，确保产品的市场竞争力，实现企业价值最大化。
共2台
IC行业纳米测量应用解决方案
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
膜厚及折射率测量ME-L系列椭偏仪非常适用于纳米级光栅的结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息的测量与分析，并能快速一次性完成其多个重要参数测量。同时支持定制化整合于工艺流程实现实时在线监测，大幅度提升企业的整合生产效率。
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联系方式：
公司名称： 武汉颐光科技有限公司
公司地址： 武汉市东湖高新区金融港四路10号6号楼 联系人： 颜猛 邮编： 430223 联系电话： 400-860-5168转4689
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