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各种IC封装器件的引脚测量仪

品智创思

2019/09/18 17:51

阅读:43

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一、仪器工作原理:

各种IC封装器件的引脚测量仪测量仪工作原理:被测工件(置于工作台上)由LED表面光或轮廓光(在底座内)照明后,经变焦距物镜与彩色CCD摄影机罩壳内摄取被测零件影像,再通过S端子传送至计算机及显示器上,软件在显示器上产生的视频十字线为基准,对其进行瞄准测量,通过工作台带动光学尺与在XY方向上移动,取空间各点坐标值,由转接卡至计算机,对测量坐标值进行几何运算,完成各种数据量测工作。

 卧式影像测量仪.jpg

二、应用领域:

 本仪器采用强大的测量软件,能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状,1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计如样板、冲压件、凸轮,成形铣刀等各种工具,刀具和零件,以及端子、钟表、金刚石



三、仪器功能:

    产品基本几何元素测量、组合元素测量、几何元素构造、形位公差评定、逆向工程等,各种报表的输出,各种产品的检测。

 1568799682(1).jpg

四、共面性测试仪仪器特点:

    1、机台核心零部件全部采用高端产品,整机经过严格,规范的组装和调试,整机在24小时恒温间内经300小时不间断运行负载测试。

 

2、自准直仪校准机台机身工作台装配工艺,保证机器空间测量高精度。

3、工作台,经过严格热处理时效,长期使用保证基准面不变形,导轨运行精度稳定。

 

4、采用山东济南青“00”级花岗石底座,保证机械系统极高的稳定性。

 

5、采用高精密V型交叉导轨,保证仪器极高的机械精度。

 

6、视频线接头加压处理,长期传输图像稳定、无雪花等异常。

    7、本仪器可取代卧式投影仪的功能,它广泛应用于检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状,如样板、冲压件、凸轮,成形铣刀等各种工具和零件,是计量室和生产车间不可缺少的一种计量检定设备。

 

8、采用高精度无牙光杆传动,传动不磨损,运行平稳安静,不在为传统丝杆传动磨损而担心。

 

五、共面性测试仪测量软件简介:

 1、全中文界面(语音可选择)、鼠标直接点击操作,智能型简便易学易用。

 

2、对一般几何测量圆、点、线、面、椭圆、圆弧、槽形、O形环、距离、角度、开云线、闭云线等,可以自动抓取量测数据,精确度稳定。

 

3、测量方法多样(自动判别测量、采点测量、对比测量、公差对比测量、预置元素等),可以满足用户不同需求,大大提高使用的方便性和测量精度。

 

4、测量工件可任意摆放,软件具有强大的坐标平移、旋转或重新设置功能。

 

5、可以在影像上对所测元素直接进行尺寸标定,给客户以清晰、直观的感觉。

 

6、无论规则与不规则形状工件只需鼠标框选,图形自动寻边找点,进行二维图形抄数。

 

7、实现DXF格式的输入和输出,还可保存BMP图片以及用户程序格式。

8、直观、丰富的报表输出,Word ExcelTXT格式及统计功能。

 

9、实用的SPC模块。

六、灵活丰富的测量功能详解

1、十字线中心采点、鼠标采点、自动对焦采点、鼠标自动采点、直线采点、方形框采点、放大采点、采集点。

2、采点测量直线、框选测量直线、分段框选测量直线、采点测量圆、框选测量圆、分段框选测量圆、单击圆内部测量圆、框选测量多圆。

3、采点测量弧、框选测量弧、分段测量超过屏幕的弧、采点测量椭圆、框选测量椭圆、分段测量椭圆、采点测量矩形、框选测量矩形。

4、采点测量槽形、框选测量槽形、采点测量O环形、框选测量O环形、采点测量云线、采点测量闭合云线、影像测量高度、圆心框采点。

5、自动捕捉测量、测量超过屏幕的线,弧,圆,椭圆、删除一次采集的点。

七、实用的构造功能

1、 构造点、构造线、构造圆、构造弧、构造椭圆、构造矩形、构造槽形、构造环形。

2、 构造距离、构造角度、构造高度、构造闭合曲线、构造平面。

3、元素构造提供10种构造法:平移、旋转、提取、组合、平行、垂直、镜像、对称、相交、相切。

八、常用功能

 

   1568800267(1).jpg

 

1、坐标系平移、坐标系摆正、发送数据到Excel、发送数据到Word、辅助对焦、辅助调光。

   

2、保存坐标系、呼出坐标系、发送数据到AUTOCAD、发送数据到TXT

 

九、公差

    完善的尺寸公差计算能力。可设置默认的公差带。

   

    能计算形状公差,真直度,圆、弧的真圆度。

   

位置公差计算包含位置度、平行度、垂直度、倾斜度及同心度﹐对称度。超差能自动报警,并以红色警示。

   

    1、尺寸公差

    尺寸公差带是极限尺寸与极限尺寸之间的范围,即(名义值+上公差)(名义值-下公差)之间的   范围(在软件中上下公差均为正值)。测量值落在尺寸公差带中,则该尺寸合格;测量值落在尺寸公差带外,测该尺寸不合格。换个说法,越差值=测量值-名义值,如果超差值在上下公差之间,该尺寸合格(不越差);否则该尺寸不合格(超差)

 

    名义值:指理论值。

在元素测量结果显示区或图形区选中目标元素,点击鼠标右键,在弹出菜单中选择公差尺寸公差或在测量结果显示区双击选中的元素,弹出下图。在该对话框尺寸公差页面中选中属性列:双击改变属性列状态,为Y时表示考虑上、下公差,N时不考虑上、下公差,然后输入测量元素的名义值、上公差、下公差,然后按Enter键或用鼠标在页面内任何一地方单击一下,则软件会根据测量值自动计算出超差并判断状态是OKNG


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