SpecMetrix® 在线涂层厚度和膜层测量系统

SpecMetrix® 在线涂层厚度和膜层测量系统

✔ 适用各种基材    ✔ 实时工艺数据    ✔ 纳米级精度    ✔ 节省成本和时间

SpecMetrix 在线系统可在涂装后立即提供实时涂层和层厚测量数据，精确到亚微米级，从而改善涂装工艺控制和产品质量。

为柔性包装和 R2R 加工行业提供连续且更精确的在线涂层和层厚测量解决方案

屡获殊荣的 SpecMetrix 在线涂层测量系统为涂覆薄膜、箔片和其他卷材应用的非接触、无损、实时涂层厚度和膜层测量（无论是湿态还是干态）提供了更高的精度标准。

这些在线系统采用模块化设计，具备高速运行能力，有效减少了涂层成本，简化了不同工厂流程中的设备安装、工艺转换和检查时间，可灵活配置为固定探头或横移系统。

SpecMetrix 横移配置                        SpecMetrix 固定探头配置 

系统特点：

• 非接触式 – 在不接触涂层或基材的情况下进行连续测量，保持产品的完整性

• 绝对厚度测量 – 提供生产卷材、单件产品和层压材料上涂层和层厚的精确测量

• 适用各种基材 – 可测量各种基材（包括金属箔、底涂纸、塑料和薄膜）上的湿涂层或干涂层；适用于任何透明、彩色或印刷基材

• 用途广泛 – 实时测量各种薄膜和 卷材涂层，包括粘合剂、阻隔层、耐刮擦涂层、湿硅胶和其他功能性涂层

• 安全无害 – 采用专有的非放射性和非侵入性 ROI 和 EXR 光学技术，易于操作和维护

• 环保 – 非破坏性检测方法可有效减少废品、溶剂使用、工时和能源成本

• 灵活可拓展 – 模块化在线系统包 括固定探头或横移设计，适用于单面或双面测量

• 强大的 SpecMetrix® 软件 –用户友好、方便使用的软件包可将所有数据存储到 Excel® 或工厂网络中， 便于在生产过程中或之后进行 SPC 分析

为薄膜和卷材应用提供可靠且连续的在线数据

双（顶部和底部）横移系统显示的在线测量数据 

横移系统可提供横向和纵向的QA质量保证数据和分析，满足不同工厂的需求

三个固定探头系统显示的在线测量数据

可选系统配置

• 用于样品检测的离线实验室和增强型实验室系统

• 用于并排涂布生产线的分体系统

• 提供 ATEX 探头和系统设计

集成选项

• SpecMetrix 系统可以通过 OPC、TCP/IP 或基于以太网的PLC（如西门子S7、Rockwell Control Logix）进行集成，用于实时收集测量数据或实现系统的完全控制和自动化、